TESCAN Tischmikroskope

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SEM-Mikroskop
SEM-Mikroskop
VEGA

Vergrößerung: 1.000.000 unit

... Das TESCAN VEGA Compact beweist, dass ein Einstiegsgerät nicht gleichbedeutend mit Kompromissen bei den Ergebnissen sein muss, und bietet eine komplette analytische REM-Lösung für Labore, die Wert auf eine einfache Bedienung und eine ...

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optisches Mikroskop
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VEGA

Analytisches REM für routinemäßige Materialcharakterisierung, Forschung und Qualitätskontrolle im Submikrometerbereich. Die 4. Generation des TESCAN VEGA Rasterelektronenmikroskops (REM) ist mit Wolfram-Filament-Elektronenquelle ausgestattet. ...

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optisches Mikroskop
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MIRA

Hochauflösendes analytisches REM für routinemäßige Materialcharakterisierung, Forschung und Qualitätskontrolle im Submikrometerbereich Die 4. Generation des TESCAN MIRA Rasterelektronenmikroskops (REM) ist mit einer FEG Schottky Elektronenemissionsquelle ...

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optisches Mikroskop
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CLARA

... Feldfreies analytisches UHR-SEM für die Materialcharakterisierung im Nanobereich Kompromisslose Charakterisierung aller Arten von Materialien auf der Nanoskala Ideal für die Charakterisierung von Materialien bei niedrigen Strahlenergien ...

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SEM-Mikroskop
SEM-Mikroskop
MAGNA

... UHR SEM für die Charakterisierung von Nanomaterialien im Sub-Nanometerbereich Hochauflösende und kontrastreiche Abbildung von Materialien der nächsten Generation (z. B. Katalysatorstrukturen, Nanoröhren, Nanopartikel und andere nanoskalige ...

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SEM-Mikroskop
SEM-Mikroskop

... Volumen-SEM-Methoden bieten Einblicke in biologisches Material in hoher Auflösung, die es Forschern ermöglichen, die innere Struktur und Funktionsweise biologischer Systeme in 3D umfassend zu verstehen. Die 2D-Bildgebungsfähigkeit fast ...

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FIB-SEM-Mikroskop
FIB-SEM-Mikroskop
AMBER

... Allzweck-Ga-FIB-SEM für die Strukturanalyse bei Kryo und Raumtemperatur TESCAN AMBER for Life Sciences ist eine hochmoderne Ga-FIB-SEM-Lösung, die multifunktionale Möglichkeiten für die Strukturanalyse biologischer Proben bietet. Es ...

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FIB-Mikroskop
FIB-Mikroskop
AMBER X

... Das TESCAN AMBER X ist ein Hochleistungs-Rasterelektronenmikroskop mit fokussiertem Plasma-Ionenstrahl (FIB-SEM) für die Analyse besonders großer Volumina und Kryo-Anwendungen mit hohem Durchsatz. Ausgestattet mit der iFIB+-Säule unterstützt ...

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