TESCAN SEM-Mikroskope

Vergrößerung: 1.000.000 unit

... TESCAN Essence™ bedient, die das Herzstück aller TESCAN SEM- und FIB-SEM-Geräte ist. Ein Bediener, der sich mit dem TESCAN VEGA Compact vertraut gemacht hat, kann problemlos auf andere TESCAN-Mikroskope ...

Analytisches REM für routinemäßige Materialcharakterisierung, Forschung und Qualitätskontrolle im Submikrometerbereich. Die 4. Generation des TESCAN VEGA Rasterelektronenmikroskops (REM) ist mit Wolfram-Filament-Elektronenquelle ausgestattet. ...

... Kombination vereinfacht erheblich die Erfassung von morphologischen, als auch elementspezifischen Daten Ihrer Probe. MIRA SEM zu einer effizienten analytischen Lösung für die routinemäßige Materialprüfung in der Qualitätskontrolle, ...

... Feldfreies analytisches UHR-SEM für die Materialcharakterisierung im Nanobereich Kompromisslose Charakterisierung aller Arten von Materialien auf der Nanoskala Ideal für die Charakterisierung von Materialien bei niedrigen ...

... UHR SEM für die Charakterisierung von Nanomaterialien im Sub-Nanometerbereich Hochauflösende und kontrastreiche Abbildung von Materialien der nächsten Generation (z. B. Katalysatorstrukturen, Nanoröhren, Nanopartikel ...

... Volumen-SEM-Methoden bieten Einblicke in biologisches Material in hoher Auflösung, die es Forschern ermöglichen, die innere Struktur und Funktionsweise biologischer Systeme in 3D umfassend zu verstehen. Die 2D-Bildgebungsfähigkeit ...