Hitachi TEM-Mikroskope

Vergrößerung: 3.000.000 unit
Räumliche Auflösung: 0,7, 0,4, 1,2, 0,8 nm

... nutzbar zu machen, verwendet das SU9000II einen ultrastabilen Probentisch mit seitlichem Eintritt, ähnlich wie bei High-End-TEM-Systemen, und verfügt über eine optimierte Vibrationsdämpfung und ein geschlossenes Gehäuse, ...

Vergrößerung: 20 unit - 8.000.000 unit
Räumliche Auflösung: 0,08, 0,1 nm

... Cs-korrigiertem SE-Imaging. Es beinhaltet auch die fortschrittlichen TEM/STEM-Technologien, die in der HF-Serie entwickelt wurden. Die Integration dieser Technologien in eine neue 200-kV-TEM/STEM-Plattform ...

Vergrößerung: 600.000, 800.000, 1.000.000 unit
Räumliche Auflösung: 0,14, 0,19, 0,2 nm

... Lösung für moderne TEM-Analysen dar. Merkmale Das Dual-Mode-Objektiv von Hitachi ermöglicht eine einfache Beobachtung bei geringer Vergrößerung, einen hohen Weitwinkelkontrast, eine hohe Auflösung und vieles mehr - ...

Räumliche Auflösung: 0,7, 1,5, 4, 50, 60 nm

... . Mikro-Probenahme-System Vollständig integrierte Probenausrichtungssteuerung für Anti-Curtaining-Effekt (ACE-Technologie) TEM-Probenpräparation für gleichmäßige Lamellen in jeder Orientierung 4. Triple-Beam-fähig, ...

Räumliche Auflösung: 4, 1,6, 2,1 nm

... optimiertes Layout für echte hochauflösende Serienschnitte, um den neuesten Anforderungen in der 3D-Strukturanalyse und für TEM- und 3DAP-Analysen gerecht zu werden. Das NX9000 FIB-SEM-System ermöglicht höchste Präzision ...

Räumliche Auflösung: 2,8, 3,5, 4, 60 nm

... Triple-Beam*-Technologie unterstützt die TEM-Probenvorbereitung mit hohem Durchsatz und hoher Qualität für modernste Anwendungen. * Option Merkmale Die kontrastreiche Echtzeit-SEM-Endpunktdetektion ermöglicht eine ...