Hitachi SEM-Mikroskope

Vergrößerung: 3.000.000 unit
Räumliche Auflösung: 0,7, 0,4, 1,2, 0,8 nm

... Bildgebung bei geringer Quellengröße und Energieverteilung. Die innovative CFE-Kanonen-Technologie sorgt für das ultimative FE-SEM mit hervorragender Strahlhelligkeit und -stabilität, das eine hochauflösende Bildgebung ...

Vergrößerung: 5 unit - 800.000 unit
Räumliche Auflösung: 4, 15, 3 nm

... Vielzahl von Zubehörteilen, die an jedem der 20 Anschlüsse der innovativen Probenkammer SU3900 angebracht werden können. ■SEM/EDS-Integrationssystem* ■Hochempfindliche Detektoren, die alle Beobachtungsanforderungen ...

Vergrößerung: 50.000, 60.000, 15.000, 10.000, 30.000 unit
Räumliche Auflösung: 4, 5 nm

... Bildgebungsleistung, selbst in Umgebungen mit variablem Druck - eine Funktion, die bisher nur in einem ausgewachsenen SEM verfügbar war. Dieses SEM wird mit sauberer Energie betrieben und ist damit ein ...

Vergrößerung: 10 unit - 250.000 unit
Gewicht: 54 kg
Länge: 617, 614 mm

... Camera Navi * Die Verwendung optischer Bilder erleichtert die Navigation zum Zielbeobachtungsgebiet. Gewonnene SEM-Bilder können über ein SEM-MAP-Bild gelegt werden. Bericht-Ersteller Wählen Sie einfach ...

Räumliche Auflösung: 0,7, 1,5, 4, 50, 60 nm

... Das Hitachi Ethos FIB-SEM ist ein FE-SEM der neuesten Generation mit hervorragender Strahlhelligkeit und Stabilität. Ethos liefert hochauflösende Bilder bei niedrigen Spannungen in Kombination mit Ionenoptik ...

Räumliche Auflösung: 4, 1,6, 2,1 nm

... entwickelte FIB-SEM-System von Hitachi, das NX9000, verfügt über ein optimiertes Layout für echte hochauflösende Serienschnitte, um den neuesten Anforderungen in der 3D-Strukturanalyse und für TEM- und 3DAP-Analysen gerecht ...

Räumliche Auflösung: 2,8, 3,5, 4, 60 nm

... FIB-SEM-Systeme sind zu einem unverzichtbaren Werkzeug für die Charakterisierung und Analyse der neuesten Technologien und Hochleistungsmaterialien im Nanobereich geworden. Die ständig steigende Nachfrage nach ultradünnen ...