Hitachi Mikroskope für Forschungszwecke

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FE-SEM-Mikroskop
FE-SEM-Mikroskop
SU9000II

Vergrößerung: 3.000.000 unit
Räumliche Auflösung: 0,8, 0,7, 1,2, 0,4 nm

... Die Cold Field Emission-Quelle ist ideal für die hochauflösende Bildgebung bei geringer Quellengröße und Energieverteilung. Die innovative CFE-Kanonen-Technologie sorgt für das ultimative FE-SEM mit hervorragender Strahlhelligkeit und ...

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Hitachi High-Tech Europe GmbH
SEM-Mikroskop
SEM-Mikroskop
SU8600

Vergrößerung: 20 unit - 2.000.000 unit
Räumliche Auflösung: 0,6, 0,7 nm

... Das SU8600 läutet eine neue Ära der ultrahochauflösenden Kaltfeld-Emissions-Rasterelektronenmikroskope in der langjährigen Hitachi EM-Produktpalette ein. Diese revolutionäre CFE-SEM-Plattform bietet vielseitige Bildgebung, Automatisierung, ...

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Hitachi High-Tech Europe GmbH
FE-SEM-Mikroskop
FE-SEM-Mikroskop
SU7000

Vergrößerung: 20 unit - 2.000.000 unit
Räumliche Auflösung: 0,9, 0,8 nm

... Ein modernes FE-SEM erfordert nicht nur eine hohe Leistung, sondern auch eine Vielzahl von Funktionen wie großflächige Beobachtung, In-situ-Analyse, variabler Druck, hochauflösende Bildgebung bei niedrigen Beschleunigungsspannungen und ...

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Hitachi High-Tech Europe GmbH
FE-SEM-Mikroskop
FE-SEM-Mikroskop
SU5000

... Mit EM Wizard werden Anfänger über Nacht zu Experten. Die automatische Achsenanpassung (Autokalibrierung) versetzt das Mikroskop auf Wunsch in seinen "besten Zustand". Eine robuste "ausziehbare" Probenkammer ermöglicht ...

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Hitachi High-Tech Europe GmbH
optisches Mikroskop
optisches Mikroskop
FlexSEM 1000 II

Vergrößerung: 60.000, 50.000, 10.000, 15.000, 30.000 unit
Räumliche Auflösung: 4, 5 nm

... kompaktes Design aus, so dass es in begrenzten Büro-, Labor- oder sogar mobilen Räumlichkeiten installiert werden kann. Dieses Mikroskop ist sowohl für Anfänger als auch für erfahrene Mikroskopiker konzipiert und eignet ...

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Hitachi High-Tech Europe GmbH
STEM-Mikroskop
STEM-Mikroskop
HF5000

Vergrößerung: 20 unit - 8.000.000 unit
Räumliche Auflösung: 0,1, 0,08 nm

... Hitachis einzigartiges, aberrationskorrigiertes 200-kV-TEM/STEM: die perfekte Harmonie von Bildauflösung und analytischer Leistung 0.die räumliche Auflösung von 078 nm im STEM wird zusammen mit einer hohen Probenschwenkbarkeit und einem ...

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Hitachi High-Tech Europe GmbH
TEM-Mikroskop
TEM-Mikroskop
HT78 series

Vergrößerung: 600.000, 800.000, 1.000.000 unit
Räumliche Auflösung: 0,14, 0,19, 0,2 nm

... Beobachtung bei geringer Vergrößerung, einen hohen Weitwinkelkontrast, eine hohe Auflösung und vieles mehr - alles in einem Mikroskop. Normaler Raumlichtbetrieb und automatisierte Funktionen ermöglichen es sowohl Anfängern ...

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Hitachi High-Tech Europe GmbH
FA-STEM-Mikroskop
FA-STEM-Mikroskop
SU5000

... Mit EM Wizard werden Anfänger über Nacht zu Experten. Die automatische Achseneinstellung (Autokalibrierung) versetzt das Mikroskop bei Bedarf in den "besten Zustand". Eine robuste "ausziehbare" Probenkammer ermöglicht ...

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Hitachi High-Technologies
FIB-SEM-Mikroskop
FIB-SEM-Mikroskop
NX9000

Räumliche Auflösung: 2,1, 1,6 nm

... Das neu entwickelte FIB-SEM-System von Hitachi, die NX9000, verfügt über ein optimiertes Layout für echte hochauflösende Serienschnitte, um den neuesten Anforderungen in der 3D-Strukturanalyse und für TEM- und 3DAP-Analysen gerecht zu ...

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Hitachi High-Technologies
FIB-SEM-Mikroskop
FIB-SEM-Mikroskop
NX2000

Räumliche Auflösung: 60, 4, 2,8, 3,5 nm

... FIB-SEM-Systeme sind zu einem unverzichtbaren Werkzeug für die Charakterisierung und Analyse der neuesten Technologien und Hochleistungsmaterialien im Nanobereich geworden. Die ständig steigende Nachfrage nach ultradünnen TEM-Lamellen ...

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