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Vergrößerung: 3.000.000 unit
Räumliche Auflösung: 1,2, 0,7, 0,4, 0,8 nm
... Die Cold Field Emission-Quelle ist ideal für die hochauflösende Bildgebung bei geringer Quellengröße und Energieverteilung. Die innovative CFE-Kanonen-Technologie sorgt für das ultimative FE-SEM mit hervorragender Strahlhelligkeit und ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
Vergrößerung: 20 unit - 2.000.000 unit
Räumliche Auflösung: 0,6, 0,9, 0,8 nm
... Das SU8700 läutet eine neue Ära der ultrahochauflösenden Schottky-Feldemissions-Rasterelektronenmikroskope in der langjährigen Hitachi EM-Produktpalette ein. Diese revolutionäre FE-SEM-Plattform bietet vielseitige Bildgebung, hohen Sondenstrom, ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
Vergrößerung: 20 unit - 2.000.000 unit
Räumliche Auflösung: 0,7, 0,6 nm
... Das SU8600 läutet eine neue Ära der ultrahochauflösenden Kaltfeld-Emissions-Rasterelektronenmikroskope in der langjährigen Hitachi EM-Produktpalette ein. Diese revolutionäre CFE-SEM-Plattform bietet vielseitige Bildgebung, Automatisierung, ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
Vergrößerung: 20 unit - 2.000.000 unit
Räumliche Auflösung: 0,9, 0,8 nm
... Ein modernes FE-SEM erfordert nicht nur eine hohe Leistung, sondern auch eine Vielzahl von Funktionen wie großflächige Beobachtung, In-situ-Analyse, variabler Druck, hochauflösende Bildgebung bei niedrigen Beschleunigungsspannungen und ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
... Mit EM Wizard werden Anfänger über Nacht zu Experten. Die automatische Achsenanpassung (Autokalibrierung) versetzt das Mikroskop auf Wunsch in seinen "besten Zustand". Eine robuste "ausziehbare" Probenkammer ermöglicht ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
Vergrößerung: 5 unit - 800.000 unit
Räumliche Auflösung: 4, 15, 3 nm
... Die Rasterelektronenmikroskope SU3800/SU3900 von Hitachi High-Tech bieten sowohl Bedienbarkeit als auch Erweiterbarkeit. Der Bediener kann viele Vorgänge automatisieren und ihre hohe Leistung effizient nutzen. Das SU3900 ist mit einer ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
Vergrößerung: 50.000, 60.000, 10.000, 30.000, 15.000 unit
Räumliche Auflösung: 4, 5 nm
... kompaktes Design aus, so dass es in begrenzten Büro-, Labor- oder sogar mobilen Räumlichkeiten installiert werden kann. Dieses Mikroskop ist sowohl für Anfänger als auch für erfahrene Mikroskopiker konzipiert und eignet ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
Vergrößerung: 10 unit - 250.000 unit
Gewicht: 54 kg
Länge: 617, 614 mm
... Die TM4000-Serie zeichnet sich durch Innovationen und Spitzentechnologien aus, die die Möglichkeiten eines Tischmikroskops neu definieren. Diese neue Generation der seit langem bewährten Hitachi-Tischmikroskope (TM) vereint Benutzerfreundlichkeit, ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
Vergrößerung: 20 unit - 8.000.000 unit
Räumliche Auflösung: 0,08, 0,1 nm
... Hitachis einzigartiges, aberrationskorrigiertes 200-kV-TEM/STEM: die perfekte Harmonie von Bildauflösung und analytischer Leistung 0.die räumliche Auflösung von 078 nm im STEM wird zusammen mit einer hohen Probenschwenkbarkeit und einem ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
Vergrößerung: 600.000, 800.000, 1.000.000 unit
Räumliche Auflösung: 0,14, 0,19, 0,2 nm
... Beobachtung bei geringer Vergrößerung, einen hohen Weitwinkelkontrast, eine hohe Auflösung und vieles mehr - alles in einem Mikroskop. Normaler Raumlichtbetrieb und automatisierte Funktionen ermöglichen es sowohl Anfängern ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
Vergrößerung: 3.000.000 unit
Räumliche Auflösung: 0,4, 0,7 nm
... Die Cold Field Emission-Quelle ist ideal für die hochauflösende Bildgebung bei geringer Quellengröße und Energieverteilung. Die innovative CFE-Kanonen-Technologie sorgt für das ultimative FE-SEM mit hervorragender Strahlhelligkeit und ...
Hitachi High-Technologies
Vergrößerung: 20 unit - 2.000.000 unit
Räumliche Auflösung: 0,6, 0,8, 0,9 nm
... Das SU8700 läutet eine neue Ära der ultrahochauflösenden Schottky-Feldemissions-Rasterelektronenmikroskope in der langjährigen Hitachi EM-Produktpalette ein. Diese revolutionäre FE-SEM-Plattform bietet vielseitige Bildgebung, hohen Sondenstrom, ...
Hitachi High-Technologies
Vergrößerung: 20 unit - 2.000.000 unit
Räumliche Auflösung: 0,7, 0,6 nm
... Das SU8600 läutet eine neue Ära der ultrahochauflösenden Kaltfeld-Emissions-Rasterelektronenmikroskope in der langjährigen Hitachi EM-Produktpalette ein. Diese revolutionäre CFE-SEM-Plattform bietet vielseitige Bildgebung, Automatisierung, ...
Hitachi High-Technologies
Vergrößerung: 20 unit - 2.000.000 unit
Räumliche Auflösung: 0,9, 0,8 nm
... Ein modernes FE-SEM erfordert nicht nur eine hohe Leistung, sondern auch eine Vielzahl von Funktionen wie großflächige Beobachtung, In-situ-Analyse, variabler Druck, hochauflösende Bildgebung bei niedrigen Beschleunigungsspannungen und ...
Hitachi High-Technologies
... Mit EM Wizard werden Anfänger über Nacht zu Experten. Die automatische Achseneinstellung (Autokalibrierung) versetzt das Mikroskop bei Bedarf in den "besten Zustand". Eine robuste "ausziehbare" Probenkammer ermöglicht ...
Hitachi High-Technologies
Vergrößerung: 10 unit - 250.000 unit
Gewicht: 54 kg
Breite: 330 mm
... Die TM4000-Serie zeichnet sich durch Innovationen und Spitzentechnologien aus, die die Möglichkeiten eines Tischmikroskops neu definieren. Diese neue Generation der seit langem bewährten Hitachi-Tischmikroskope (TM) vereint Benutzerfreundlichkeit, ...
Hitachi High-Technologies
Räumliche Auflösung: 4, 60, 0,7, 50, 1,5 nm
... Das Hitachi Ethos FIB-SEM ist ein FE-SEM der neuesten Generation mit hervorragender Strahlhelligkeit und Stabilität. Ethos liefert hochauflösende Bilder bei niedrigen Spannungen in Kombination mit Ionenoptik für die Präzisionsbearbeitung ...
Hitachi High-Technologies
Räumliche Auflösung: 2,1, 1,6 nm
... Das neu entwickelte FIB-SEM-System von Hitachi, die NX9000, verfügt über ein optimiertes Layout für echte hochauflösende Serienschnitte, um den neuesten Anforderungen in der 3D-Strukturanalyse und für TEM- und 3DAP-Analysen gerecht zu ...
Hitachi High-Technologies
Räumliche Auflösung: 60, 4, 2,8, 3,5 nm
... FIB-SEM-Systeme sind zu einem unverzichtbaren Werkzeug für die Charakterisierung und Analyse der neuesten Technologien und Hochleistungsmaterialien im Nanobereich geworden. Die ständig steigende Nachfrage nach ultradünnen TEM-Lamellen ...
Hitachi High-Technologies
Räumliche Auflösung: 0,3 nm
... Die AFM100-Serie ist Hitachis Sondenmikroskopie-Plattform der nächsten Generation. Die Systeme AFM100 Plus und AFM100, die diese Serie bilden, wurden entwickelt, um die Möglichkeiten und die Leistung der Rasterkraftmikroskopie zu erweitern ...
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