Hitachi kompakte Mikroskope

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FE-SEM-Mikroskop
FE-SEM-Mikroskop
SU9000II

Vergrößerung: 3.000.000 unit
Räumliche Auflösung: 0,8, 0,7, 1,2, 0,4 nm

... Die Cold Field Emission-Quelle ist ideal für die hochauflösende Bildgebung bei geringer Quellengröße und Energieverteilung. Die innovative CFE-Kanonen-Technologie sorgt für das ultimative FE-SEM mit hervorragender Strahlhelligkeit und ...

optisches Mikroskop
optisches Mikroskop
FlexSEM 1000 II

Vergrößerung: 60.000, 50.000, 10.000, 15.000, 30.000 unit
Räumliche Auflösung: 4, 5 nm

... zeichnet sich durch ein anpassungsfähiges, teilbares und kompaktes Design aus, so dass es in begrenzten Büro-, Labor- oder sogar mobilen Räumlichkeiten installiert werden kann. Dieses Mikroskop ist sowohl ...

optisches Mikroskop
optisches Mikroskop
TM4000 series

Vergrößerung: 10 unit - 250.000 unit
Gewicht: 54 kg
Länge: 614, 617 mm

... bewährten Hitachi-Tischmikroskope (TM) vereint Benutzerfreundlichkeit, optimierte Bildgebung und hohe Bildqualität, wobei das kompakte Design der bewährten Hitachi-Produkte der TM-Serie erhalten bleibt. Erleben Sie die ...

optisches Mikroskop
optisches Mikroskop
SU9000II

Vergrößerung: 3.000.000 unit
Räumliche Auflösung: 0,4, 0,7 nm

... Die Cold Field Emission-Quelle ist ideal für die hochauflösende Bildgebung bei geringer Quellengröße und Energieverteilung. Die innovative CFE-Kanonen-Technologie sorgt für das ultimative FE-SEM mit hervorragender Strahlhelligkeit und ...

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TM4000Plus II

Vergrößerung: 10 unit - 250.000 unit
Gewicht: 54 kg
Breite: 330 mm

... bewährten Hitachi-Tischmikroskope (TM) vereint Benutzerfreundlichkeit, optimierte Bildgebung und hohe Bildqualität, wobei das kompakte Design der bewährten Hitachi-Produkte der TM-Serie erhalten bleibt. Erleben Sie die ...

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AFM-Mikroskop
AFM-Mikroskop
AFM100 Plus

Räumliche Auflösung: 0,3 nm

... Die AFM100-Serie ist Hitachis Sondenmikroskopie-Plattform der nächsten Generation. Die Systeme AFM100 Plus und AFM100, die diese Serie bilden, wurden entwickelt, um die Möglichkeiten und die Leistung der Rasterkraftmikroskopie zu erweitern ...

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