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Vergrößerung: 3.000.000 unit
Räumliche Auflösung: 1,2, 0,7, 0,4, 0,8 nm
... Die Cold Field Emission-Quelle ist ideal für die hochauflösende Bildgebung bei geringer Quellengröße und Energieverteilung. Die innovative CFE-Kanonen-Technologie sorgt für das ultimative FE-SEM mit hervorragender Strahlhelligkeit und ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
Vergrößerung: 20 unit - 2.000.000 unit
Räumliche Auflösung: 0,9, 0,8 nm
... Ein modernes FE-SEM erfordert nicht nur eine hohe Leistung, sondern auch eine Vielzahl von Funktionen wie großflächige Beobachtung, In-situ-Analyse, variabler Druck, hochauflösende Bildgebung bei niedrigen Beschleunigungsspannungen und ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
... Das innovative analytische FE-SEM ermöglicht einen einfachen Wechsel zwischen Hochvakuum- und variablem Druckmodus. EM Wizard ist ein wissensbasiertes System für die REM-Bildgebung, das über grundlegende voreingestellte Bedingungen und ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
Vergrößerung: 20 unit - 8.000.000 unit
Räumliche Auflösung: 0,08, 0,1 nm
... Hitachis einzigartiges, aberrationskorrigiertes 200-kV-TEM/STEM: die perfekte Harmonie von Bildauflösung und analytischer Leistung 0.die räumliche Auflösung von 078 nm im STEM wird zusammen mit einer hohen Probenschwenkbarkeit und einem ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
Vergrößerung: 600.000, 800.000, 1.000.000 unit
Räumliche Auflösung: 0,14, 0,19, 0,2 nm
... Das HT7800 RuliTEM ist ein 120-kV-Transmissionselektronenmikroskop (TEM) mit mehreren Objektivkonfigurationen, darunter ein Standardobjektiv für unübertroffen hohen Kontrast und ein klassenführendes HR-Objektiv für hohe Auflösung. Dieser ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
Vergrößerung: 3.000.000 unit
Räumliche Auflösung: 0,4, 0,7 nm
... Die Cold Field Emission-Quelle ist ideal für die hochauflösende Bildgebung bei geringer Quellengröße und Energieverteilung. Die innovative CFE-Kanonen-Technologie sorgt für das ultimative FE-SEM mit hervorragender Strahlhelligkeit und ...
Hitachi High-Technologies
Räumliche Auflösung: 0,3 nm
... Die AFM100-Serie ist Hitachis Sondenmikroskopie-Plattform der nächsten Generation. Die Systeme AFM100 Plus und AFM100, die diese Serie bilden, wurden entwickelt, um die Möglichkeiten und die Leistung der Rasterkraftmikroskopie zu erweitern ...
Hitachi High-Technologies
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