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Vergrößerung: 3.000.000 unit
Räumliche Auflösung: 0,8, 1,2, 0,4 nm
... Elementanalyse sowohl im REM- als auch im STEM-Modus nahe an der Probe angebracht werden. Produktmerkmale: - SEM-STEM-Kombination mit ExB-gefiltertem SEM-Signal und streuwinkelabhängiger Transmissionssignaldetektion - ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
Vergrößerung: 20 unit - 2.000.000 unit
Räumliche Auflösung: 0,9, 0,6 nm
... Das SU8700 ist standardmäßig mit einer 150-mm-Probenschleuse ausgestattet und bietet einen hohen Probendurchsatz auch für größere Proben und eine konstant saubere Probenkammerumgebung für kontaminationsarme, hochauflösende Bildgebung. ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
Vergrößerung: 20 unit - 2.000.000 unit
Räumliche Auflösung: 0,8, 0,9 nm
... Das SU7000 ist ideal für große oder schwere Proben und für die Integration einer breiten Palette von Zubehör. Zu diesem Zubehör gehören analytische Detektoren oder Tischaufsätze für die In-situ-Probenmanipulation (Dehnung [Zug] / Kompression, ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
Vergrößerung: 5 unit - 600.000 unit
Räumliche Auflösung: 0,9, 2,5 nm
Die Hitachi-Rasterelektronenmikroskope SU3800SE und SU3900SE bieten Ihnen eine Bildgebungs- und Analyselösung für ein breites Spektrum von Anwendungen. Diese Geräte bieten hochauflösende Bildgebung, einfache Probennavigation und fortschrittliche ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
Vergrößerung: 20 unit - 2.000.000 unit
Räumliche Auflösung: 0,6, 0,8, 0,9 nm
... ultrahochauflösenden Schottky-Feldemissions-Rasterelektronenmikroskope in der langjährigen Hitachi EM-Produktpalette ein. Diese revolutionäre FE-SEM-Plattform bietet vielseitige Bildgebung, hohen Sondenstrom, ...
Hitachi High-Technologies
Vergrößerung: 20 unit - 2.000.000 unit
Räumliche Auflösung: 0,7, 0,6 nm
... ultrahochauflösenden Kaltfeld-Emissions-Rasterelektronenmikroskope in der langjährigen Hitachi EM-Produktpalette ein. Diese revolutionäre CFE-SEM-Plattform bietet vielseitige Bildgebung, Automatisierung, erhöhte Systemstabilität, ...
Hitachi High-Technologies
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