Hitachi FE-SEM-Mikroskope

Vergrößerung: 3.000.000 unit
Räumliche Auflösung: 0,7, 0,4, 1,2, 0,8 nm

... Bildgebung bei geringer Quellengröße und Energieverteilung. Die innovative CFE-Kanonen-Technologie sorgt für das ultimative FE-SEM mit hervorragender Strahlhelligkeit und -stabilität, das eine hochauflösende ...

Vergrößerung: 20 unit - 2.000.000 unit
Räumliche Auflösung: 0,6, 0,9, 0,8 nm

... ultrahochauflösenden Schottky-Feldemissions-Rasterelektronenmikroskope in der langjährigen Hitachi EM-Produktpalette ein. Diese revolutionäre FE-SEM-Plattform bietet vielseitige Bildgebung, hohen Sondenstrom, ...

Vergrößerung: 20 unit - 2.000.000 unit
Räumliche Auflösung: 0,9, 0,8 nm

... Ein modernes FE-SEM erfordert nicht nur eine hohe Leistung, sondern auch eine Vielzahl von Funktionen wie großflächige Beobachtung, In-situ-Analyse, variabler Druck, hochauflösende Bildgebung bei niedrigen ...

... Das innovative analytische FE-SEM ermöglicht einen einfachen Wechsel zwischen Hochvakuum- und variablem Druckmodus. EM Wizard ist ein wissensbasiertes System für die REM-Bildgebung, das über grundlegende ...

Vergrößerung: 5 unit - 600.000 unit
Räumliche Auflösung: 0,9, 2,5, 1,6 nm

... Die Mikroskope der SU3900SE/SU3800SE-Serie sind FE-SEMs, die hochauflösende Beobachtungsmöglichkeiten bieten. Sie kombinieren einfache Datenerfassung durch einfache Bedienung mit viel größeren und schwereren ...

Vergrößerung: 5 unit - 600.000 unit
Räumliche Auflösung: 0,9, 2,5 nm

... Die Hitachi SU3800SE und SU3900SE SEMs bieten vielseitige Bildgebungs- und Analyselösungen für verschiedene Anwendungen. Diese Geräte bieten hochauflösende Bildgebung, intuitive Navigation und fortschrittliche Automatisierung und liefern ...

Räumliche Auflösung: 0,7, 1,5, 4, 50, 60 nm

... Das Hitachi Ethos FIB-SEM ist ein FE-SEM der neuesten Generation mit hervorragender Strahlhelligkeit und Stabilität. Ethos liefert hochauflösende Bilder bei niedrigen Spannungen in Kombination ...