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Hitachi bodenstehende Mikroskope
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![FE-SEM-Mikroskop](https://img.medicalexpo.de/images_me/photo-m2/4581699-19706708.jpg)
Vergrößerung: 3.000.000 unit
Räumliche Auflösung: 0,8, 0,7, 1,2, 0,4 nm
... Die Cold Field Emission-Quelle ist ideal für die hochauflösende Bildgebung bei geringer Quellengröße und Energieverteilung. Die innovative CFE-Kanonen-Technologie sorgt für das ultimative FE-SEM mit hervorragender Strahlhelligkeit und ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
![FE-SEM-Mikroskop](https://img.medicalexpo.de/images_me/photo-m2/4581699-19706756.jpg)
Vergrößerung: 20 unit - 2.000.000 unit
Räumliche Auflösung: 0,6, 0,8, 0,9 nm
... Das SU8700 läutet eine neue Ära der ultrahochauflösenden Schottky-Feldemissions-Rasterelektronenmikroskope in der langjährigen Hitachi EM-Produktpalette ein. Diese revolutionäre FE-SEM-Plattform bietet vielseitige Bildgebung, hohen Sondenstrom, ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
![SEM-Mikroskop](https://img.medicalexpo.de/images_me/photo-m2/4581699-19706811.jpg)
Vergrößerung: 20 unit - 2.000.000 unit
Räumliche Auflösung: 0,6, 0,7 nm
... Das SU8600 läutet eine neue Ära der ultrahochauflösenden Kaltfeld-Emissions-Rasterelektronenmikroskope in der langjährigen Hitachi EM-Produktpalette ein. Diese revolutionäre CFE-SEM-Plattform bietet vielseitige Bildgebung, Automatisierung, ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
![FE-SEM-Mikroskop](https://img.medicalexpo.de/images_me/photo-m2/4581699-19706901.jpg)
Vergrößerung: 20 unit - 2.000.000 unit
Räumliche Auflösung: 0,9, 0,8 nm
... Ein modernes FE-SEM erfordert nicht nur eine hohe Leistung, sondern auch eine Vielzahl von Funktionen wie großflächige Beobachtung, In-situ-Analyse, variabler Druck, hochauflösende Bildgebung bei niedrigen Beschleunigungsspannungen und ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
![FE-SEM-Mikroskop](https://img.medicalexpo.de/images_me/photo-m2/4581699-19706928.jpg)
... Mit EM Wizard werden Anfänger über Nacht zu Experten. Die automatische Achsenanpassung (Autokalibrierung) versetzt das Mikroskop auf Wunsch in seinen "besten Zustand". Eine robuste "ausziehbare" Probenkammer ermöglicht ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
![SEM-Mikroskop](https://img.medicalexpo.de/images_me/photo-m2/4581699-19706956.jpg)
Vergrößerung: 5 unit - 800.000 unit
Räumliche Auflösung: 3, 15, 4 nm
... Die Rasterelektronenmikroskope SU3800/SU3900 von Hitachi High-Tech bieten sowohl Bedienbarkeit als auch Erweiterbarkeit. Der Bediener kann viele Vorgänge automatisieren und ihre hohe Leistung effizient nutzen. Das SU3900 ist mit einer ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
![optisches Mikroskop](https://img.medicalexpo.de/images_me/photo-m2/4581699-19706974.jpg)
Vergrößerung: 60.000, 50.000, 10.000, 15.000, 30.000 unit
Räumliche Auflösung: 4, 5 nm
... kompaktes Design aus, so dass es in begrenzten Büro-, Labor- oder sogar mobilen Räumlichkeiten installiert werden kann. Dieses Mikroskop ist sowohl für Anfänger als auch für erfahrene Mikroskopiker konzipiert und eignet ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
![STEM-Mikroskop](https://img.medicalexpo.de/images_me/photo-m2/4581699-19707151.jpg)
Vergrößerung: 20 unit - 8.000.000 unit
Räumliche Auflösung: 0,1, 0,08 nm
... Hitachis einzigartiges, aberrationskorrigiertes 200-kV-TEM/STEM: die perfekte Harmonie von Bildauflösung und analytischer Leistung 0.die räumliche Auflösung von 078 nm im STEM wird zusammen mit einer hohen Probenschwenkbarkeit und einem ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
![TEM-Mikroskop](https://img.medicalexpo.de/images_me/photo-m2/4581699-19707161.jpg)
Vergrößerung: 600.000, 800.000, 1.000.000 unit
Räumliche Auflösung: 0,14, 0,19, 0,2 nm
... Beobachtung bei geringer Vergrößerung, einen hohen Weitwinkelkontrast, eine hohe Auflösung und vieles mehr - alles in einem Mikroskop. Normaler Raumlichtbetrieb und automatisierte Funktionen ermöglichen es sowohl Anfängern ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
![FIB-SEM-Mikroskop](https://img.medicalexpo.de/images_me/photo-m2/80782-19039360.jpg)
Räumliche Auflösung: 2,1, 1,6 nm
... Das neu entwickelte FIB-SEM-System von Hitachi, die NX9000, verfügt über ein optimiertes Layout für echte hochauflösende Serienschnitte, um den neuesten Anforderungen in der 3D-Strukturanalyse und für TEM- und 3DAP-Analysen gerecht zu ...
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