Hitachi bodenstehende Mikroskope

Vergrößerung: 3.000.000 unit
Räumliche Auflösung: 0,8, 1,2, 0,4 nm

... Das SU9000 II ist eine Kombination aus oberflächenabbildendem SEM und strukturauflösendem Rastertransmissionsmikroskop (STEM), die für eine extreme Auflösung optimiert ist. Ermöglicht wird dies durch die einzigartige Elektronenoptik des ...

Vergrößerung: 20 unit - 2.000.000 unit
Räumliche Auflösung: 0,9, 0,6 nm

... Das SU8700 ist standardmäßig mit einer 150-mm-Probenschleuse ausgestattet und bietet einen hohen Probendurchsatz auch für größere Proben und eine konstant saubere Probenkammerumgebung für kontaminationsarme, hochauflösende Bildgebung. ...

Vergrößerung: 20 unit - 2.000.000 unit
Räumliche Auflösung: 0,7, 0,6 nm

... Das SU8600 ist das Nachfolgemodell der bewährten Regulus-Feldemissions-SEM-Familie und erfüllt höchste Anforderungen für abbildungsorientierte Anwendungen. Der Kaltfeldstrahler mit seiner nahezu monochromatischen Emission in Kombination ...

Vergrößerung: 20 unit - 2.000.000 unit
Räumliche Auflösung: 0,8, 0,9 nm

... Das SU7000 ist ideal für große oder schwere Proben und für die Integration einer breiten Palette von Zubehör. Zu diesem Zubehör gehören analytische Detektoren oder Tischaufsätze für die In-situ-Probenmanipulation (Dehnung [Zug] / Kompression, ...

Vergrößerung: 5 unit - 800.000 unit
Räumliche Auflösung: 15, 4, 3 nm

... Bei der SU3800/3900 VP-SEM-Familie liegt der Schwerpunkt auf der Produktivität. Diese Werkzeuge automatisieren sich wiederholende Aufgaben, sodass Sie in kurzer Zeit und mit geringem manuellem Aufwand reproduzierbare Ergebnisse erzielen ...

Vergrößerung: 6, 8.000.000 unit
Räumliche Auflösung: 15, 4 nm

... FlexSEM II ist ein Tisch-/Kompakt-SEM für Bildgebungsaufgaben, die über die Leistung herkömmlicher Tisch-SEMs hinausgehen. Es ist das ideale System für alle, die nicht in ein klassisches SEM investieren, aber auch keine Kompromisse bei ...

Vergrößerung: 20 unit - 8.000.000 unit
Räumliche Auflösung: 0,08, 0,1 nm

... Das HF5000 ist ein Cs-korrigiertes S/TEM, das für In-situ-Experimente angepasst werden kann. Die Besonderheit ist der Everhart Thornley SE-Detektor, der die Oberfläche der Probe bei 60-200kV abbildet, genau wie bei einem SEM. Dies ist ...

Vergrößerung: 1.000.000, 800.000, 600.000 unit
Räumliche Auflösung: 0,19, 0,14, 0,2 nm

... Die HT7800-Familie unterstützt eine Vielzahl von Anwendungen, von Biowissenschaften bis hin zu Materialwissenschaften. Es ist in drei verschiedenen Polschuh-Varianten erhältlich, die alle auf unserer patentierten Objektivlinse basieren ...

Vergrößerung: 5 unit - 600.000 unit
Räumliche Auflösung: 0,9, 2,5 nm

Die Hitachi-Rasterelektronenmikroskope SU3800SE und SU3900SE bieten Ihnen eine Bildgebungs- und Analyselösung für ein breites Spektrum von Anwendungen. Diese Geräte bieten hochauflösende Bildgebung, einfache Probennavigation und fortschrittliche ...

Vergrößerung: 0 unit
Räumliche Auflösung: 4, 60 nm

... Die NX5000 "ETHOS" FIB-SEM-Plattform zielt auf fortschrittliche positionsgenaue Anwendungen in den Bereichen der automatisierten Herstellung von ultrafeinen TEM-Lamellen für aberrationskorrigierte TEM/STEM, hochauflösende Multi-Signal-SEM-Untersuchungen ...