Hitachi automatische Probenvorbereitungsgeräte

... Dieses Gerät dient der Vorbereitung des gewünschten Waferteils für die Analyse mit STEM, TEM usw. durch Extraktion einer Mikroprobe mit einem Ionenstrahl in der Vakuumkammer eines FIB-Systems. Merkmale FIB-Mikroprobenentnahmegerät und ...

... Der MC1000 Ionen-Sputter-Coater ist ein Probenvorbereitungsgerät zur Verwendung mit einem Rasterelektronenmikroskop (REM). Der MC1000 ist für die Abscheidung einer dünnen Metallbeschichtung wie Platin (Pt), Gold (Au), ...

... Der ZONESEMII-Tischprobenreiniger verwendet eine UV-basierte Reinigungstechnologie, um Kohlenwasserstoffverunreinigungen für die elektronenmikroskopische Bildgebung zu minimieren oder zu beseitigen. Übersicht Die Vorbereitung, Handhabung ...

... Das IM4000II unterstützt sowohl das Querschnittsfräsen als auch das Flachfräsen zur Vorbereitung von Proben je nach Zweck. Kühltemperaturregelung, Luftschutzhalterung und verschiedene Optionen ermöglichen die Vorbereitung verschiedener ...

... Querschnittsfräshalterdesign für die Herstellung größerer Flächen entwickelt. Beispiel für großflächiges Querschnittsfräsen (Probe: elektronisches Bauteil, Fräszeit: 5 Stunden) Hybrid-Modell: Dual-Milling-Konfiguration ...

... Der innovative ZONETEM II Desktop Sample Cleaner verwendet eine UV-basierte Reinigungstechnologie zur Minimierung oder Beseitigung von Kohlenwasserstoffverunreinigungen für die elektronenmikroskopische Bildgebung. ZONE bietet eine einfach ...