Hitachi 3D-Mikroskope

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CFE-SEM-Mikroskop
CFE-SEM-Mikroskop
SU8600

Vergrößerung: 20 unit - 2.000.000 unit
Räumliche Auflösung: 0,6, 0,7 nm

... x - 0 bis 110 mm y - 0 bis 110 mm z - 1,5 bis 40 mm t - -5 bis 70° r - 360° Probenkammer - Probengröße - Max. φ150 mm(*3) ...

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Feldemissions-Rasterelektronen-Mikroskop
Feldemissions-Rasterelektronen-Mikroskop
SU5000

... Autokalibrierung) versetzt das Mikroskop auf Wunsch in seinen "besten Zustand". Eine robuste "ausziehbare" Probenkammer ermöglicht die Aufnahme großer Proben (-200 mmφ, -80 mmH). Schneller Probenwechsel mit Evakuierung ...

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Hitachi High-Tech Europe GmbH
TEM-Mikroskop
TEM-Mikroskop
HT78 series

Vergrößerung: 600.000, 800.000, 1.000.000 unit
Räumliche Auflösung: 0,14, 0,19, 0,2 nm

... Stage-Navigationsfunktion ermöglicht die Suche im gesamten Raster und eine effiziente Bildaufnahme. Automatisiertes Bildstitching, 3D-Tomographie, STEM, EDX, In-situ und andere Optionen für eine breite ...

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Hitachi High-Tech Europe GmbH
optisches Mikroskop
optisches Mikroskop
NX9000

Räumliche Auflösung: 4, 1,6, 2,1 nm

... über ein optimiertes Layout für echte hochauflösende Serienschnitte, um den neuesten Anforderungen in der 3D-Strukturanalyse und für TEM- und 3DAP-Analysen gerecht zu werden. Das NX9000 ...

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Hitachi High-Tech Europe GmbH
SEM-Mikroskop
SEM-Mikroskop
SU8600

Vergrößerung: 20 unit - 2.000.000 unit
Räumliche Auflösung: 0,7, 0,6 nm

... ultrahoher Auflösung. Ein intelligentes Detektionssystem für die BSE-Bildgebung bei niedriger Spannung Querschnittsbild eines 3D-NAND; Die Oxidschicht und die Nitridschicht des Kondensators sind dank ...

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Hitachi High-Technologies
FIB-SEM-Mikroskop
FIB-SEM-Mikroskop
NX9000

Räumliche Auflösung: 2,1, 1,6 nm

... in der 3D-Strukturanalyse und für TEM- und 3DAP-Analysen gerecht zu werden. Das neu entwickelte FIB-SEM-System NX9000 von Hitachi verfügt über ein optimiertes Layout für echte, hochauflösende ...

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