Das photoelektrische Mikro-Nano-Messsystem verwendet eine mikroskopische Bildgebungstechnik und mehrere Anregungslichtpfade, um ein photovoltaisches Testgerät mit stabilem, kleinem monochromatischem Licht zu versorgen. Seine Funktionen sind die Charakterisierung von Kurzschlussstromverteilungen, Oberflächendefekten und Reflektivität in elektronischen Geräten.
Das System basiert auf der Galvo-Scan-Technik und zeichnet sich durch schnelles Scannen und eine hohe räumliche Auflösung aus. Es wird häufig für die Untersuchung von Solarzellen und photoelektrischen Bauelementen verwendet, wie z. B. farbstoffsensibilisiertes, monokristallines Silizium, multikristallines Silizium, organische Halbleiter, GaN-Detektoren usw. Die photoelektrische Bildgebung kann wichtige analytische Daten für die QE, die Widerstandsverteilung und die Inhomogenität des photogenerierten Stroms liefern.
Aufbau des Systems:
Das System umfasst Anregungslaser, Scangalvanometer, Mikroskopie, Datenerfassungseinheit und Steuerungssoftware. Beim Scannen der Probe sorgt das Galvanometer dafür, dass der Laserspot gescannt wird und sich schnell in XY-Richtung der Probe bewegt. Die Software zeichnet die Position jedes Abtastpunkts und den Stromausgangswert auf und stellt synchron ein Diagramm dar, das die Stromverteilung der Probe zeigt. Der Lichtweg stellt auch sicher, dass sich das Lichtpunktmuster an verschiedenen Positionen der Probe nicht ändert.
Bestandteile:
■ Lichtquellen
■ Mikroskopie
■ Abtastgalvanometer
■ Quellenmessgerät
■ Prüfkopfstation und Software
Merkmale
■ Multi-Laser-Wellenlänge ist optional
■ Einfacher Probenwechsel
■ XY-Lineartisch ermöglicht einen einfachen Wechsel des Messpunktes der Probe
■ Galvo-Scanning beseitigt die Vibrationseinflüsse
■ Die Visualisierungssoftware kann den Scanbereich beliebig wählen
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