FIB-Mikroskop AMBER X

FIB-SEMfür Biowissenschaftenfür Biologie

Das TESCAN AMBER X ist ein Hochleistungs-Rasterelektronenmikroskop mit fokussiertem Plasma-Ionenstrahl (FIB-SEM) für die Analyse besonders großer Volumina und Kryo-Anwendungen mit hohem Durchsatz. Ausgestattet mit der iFIB+-Säule unterstützt das TESCAN AMBER X Kryo-FIB-Anwendungen, die bisher mit Ga-FIB-Systemen durchgeführt wurden, in einem Bruchteil der Zeit mit den ultraschnellen Materialabtragsraten, die der Plasma-FIB eigen sind. Tief in der Probe verborgene Merkmale können innerhalb von Minuten freigelegt werden, im Vergleich zum herkömmlichen Ga-FIB-Fräsen, das mehrere Stunden dauern würde. AMBER X cryo eignet sich gut für harte biologische Materialien wie Knochen oder Muscheln, die sich leicht mit der Präzision schneiden lassen, die man von einem FIB-System erwartet. Die von TESCAN entwickelten Methoden zur Vermeidung von Artefakten ermöglichen die 3D-FIB-SEM-Tomographie von weichem Gewebe, porösen Materialien oder Regionen mit unterschiedlicher Härte, ohne dass die künstlichen Streifen in der Bildnachbearbeitung entfernt werden müssen. Das außergewöhnliche FIB-Sichtfeld des AMBER X deckt bis zu 1 mm für Querschnitte und großvolumige Analysen ab. Das AMBER X cryo eignet sich ideal für Kerneinrichtungen sowie Bildgebungs- und Mikroskopiezentren, die sowohl in den Biowissenschaften als auch in den Materialwissenschaften tätig sind. Es ist vielseitig einsetzbar und kann eine Vielzahl von Materialien und Proben bei Raumtemperatur oder kryogenen Temperaturen bearbeiten. Wichtigste Vorteile Beseitigen Sie den größten Engpass in Ihrem Kryo-ET-Probenvorbereitungs-Workflow, indem Sie mit der iFIB+ Plasma-FIB-Säule Materialabtrag und Probenausdünnung schneller durchführen Führen Sie mit der Hochleistungs-Plasma-FIB und optimierten Arbeitsabläufen, die für die Kryo-EM-Probenvorbereitung mit hohem Durchsatz unerlässlich sind, die Kryo-On-Grid-Lamellenvorbereitung in wenigen Minuten durch