SEM-Mikroskop MAGNA

STEMfür MaterialforschungTischgerät

UHR SEM für die Charakterisierung von Nanomaterialien im Sub-Nanometerbereich Hochauflösende und kontrastreiche Abbildung von Materialien der nächsten Generation (z. B. Katalysatorstrukturen, Nanoröhren, Nanopartikel und andere nanoskalige Strukturen) Hervorragende Plattform für die SEM/STEM-Metrologie im Sub-Nanometerbereich Schnelles Einrichten des Elektronenstrahls - optimale Abbildungsbedingungen werden durch das In-Flight Beam Tracing™ gewährleistet Multidetektorsystem TriBE™ und TriSE™ für die Nanocharakterisierung von Proben Intuitive, modulare Software-Plattform für mühelose Bedienung, unabhängig vom Kenntnisstand des Benutzers