Feldfreies analytisches UHR-SEM für die Materialcharakterisierung im Nanobereich
Kompromisslose Charakterisierung aller Arten von Materialien auf der Nanoskala
Ideal für die Charakterisierung von Materialien bei niedrigen Strahlenergien für maximale Oberflächentopographie
Hervorragende Abbildung von strahlungsempfindlichen und nichtleitenden Proben
Vollautomatische Einstellung des Elektronenstrahls - optimale Abbildungsbedingungen werden durch das In-Flight Beam Tracing™ gewährleistet
Intuitive Live-SEM-Navigation auf der Probe bei nur 2facher Vergrößerung ohne zusätzliche optische Navigationskamera dank des Wide Field Optics™-Designs
Einzigartiges In-Beam-Multidetektor-Design für winkel- und energieselektive BSE-Detektion
Intuitive, modulare Software-Plattform für mühelose Bedienung, unabhängig von den Kenntnissen der Benutzer
---