SEM-Mikroskop VEGA

Laborfür MaterialforschungInspektion

Das TESCAN VEGA Compact beweist, dass ein Einstiegsgerät nicht gleichbedeutend mit Kompromissen bei den Ergebnissen sein muss, und bietet eine komplette analytische REM-Lösung für Labore, die Wert auf eine einfache Bedienung und eine schnelle Bereitstellung hochwertiger Bilder und Zusammensetzungsanalysen (EDS) legen. Der TESCAN VEGA Compact verfügt über eine vereinfachte Konfiguration, die nur die wichtigsten Komponenten für die effiziente Erfassung morphologischer und elementarer Daten enthält, so dass der TESCAN VEGA Compact im Labor weniger Platz benötigt. Der TESCAN VEGA Compact kann große Proben aufnehmen, wie sie in der Industrie, der Materialwissenschaft und der Halbleiterindustrie üblich sind - z. B. metallurgische Querschnitte, geschweißte Strukturen oder gedruckte Leiterplatten - und ist damit nicht nur eine gute Wahl für Ihre aktuellen Anforderungen an die Materialprüfung, Qualitätskontrolle und Fehleranalyse, sondern auch für Ihre zukünftigen analytischen Anforderungen. Das TESCAN VEGA Compact wird über TESCANs eigene grafische Benutzeroberfläche TESCAN Essence™ bedient, die das Herzstück aller TESCAN SEM- und FIB-SEM-Geräte ist. Ein Bediener, der sich mit dem TESCAN VEGA Compact vertraut gemacht hat, kann problemlos auf andere TESCAN-Mikroskope umsteigen oder einige Funktionen der Essence-Softwareumgebung an die Benutzeroberfläche anderer Geräte im Labor anpassen. Wesentliche Vorteile Schnellere Bearbeitung von Proben durch die große Kammer des VEGA Compact, die Platz für die Analyse mehrerer Proben oder großer Proben bietet, sowie echtes Hochvakuum für zuverlässige EDS-Ergebnisse Einfache Erfassung von Zusammensetzungsdaten und direkte Korrelation mit dem REM-Bild mit Hilfe der Überlagerungsfunktion des optionalen, vollständig integrierten Essence™ EDS von TESCAN