Optischer Nanopartikelgrößen-Analysator SALD-7500nano

hochkonzentriert

Dieser innovative Analysator bietet eine zehnmal höhere Empfindlichkeit als frühere Modelle und ist in der Lage, kontinuierliche Änderungen der Partikelgrößenverteilungen in Ein-Sekunden-Intervallen in einem Bereich von 7 nm bis 800 μm zu messen. Darüber hinaus stehen einzigartige Optionen zur Verfügung, die selbst die Messung hochkonzentrierter Proben (bis zu 20 Gew.-%) ermöglichen. Aufgrund seiner Eigenschaften ist er für Messungen in vielen Bereichen geeignet, etwa Nanotechnologie, Biowissenschaften und nano-Bubbels. Großer Messbereich: 7 nm bis 800 μm Von Primärpartikeln bis hin zu nicht sichtbaren Partikeln und Verunreinigungen Mit einer einzigen Lichtquelle, einem einfachen optischen Aufbau und einem einzigen Messprinzip können Veränderungen der Partikelgröße im Messbereich von 7 nm bis 800 μm kontinuierlich gemessen werden. Da ein Primärpartikel sowie ein Aggregat und eine Verunreinigung mit einem System gemessen werden können, können die Aggregationseigenschaften anhand einer Dispersionsbedingung gemessen werden. Eine Detektionsfläche erfasst kontinuierlich vorwärts gestreutes Licht bis zu einem Winkel von 60° Mit einem einzigen Messprinzip, einem einnfachen optischen Aufbau und einer einzigen Lichtquelle wird der gesamte Partikelgrößenbereich lückenlos abgedeckt. Da das SALD-7500nano zudem über einen großen Detektor verfügt, kommt es nicht zu Diskontinuitäten in den Messdaten. Damit sind exakte Messungen der Partikelgrößenverteilung über den gesamten Messbereich möglich. Die Anwendung des SLIT*-Optiksystems, das auf einer hochentwickelten Technologie zur Erfassung der Streulichtintensität basiert,