XRF-Spektrometer NEX DE VS

EDRFARöntgenInspektion

Energiedispersives Röntgenfluoreszenzspektrometer (EDXRF) mit variabler Spotgröße Für die Elementaranalyse von Feststoffen, Flüssigkeiten, Pulvern, Legierungen und dünnen Schichten Das neue Rigaku NEX DE VS ist ein leistungsfähiges EDXRF-Tischgerät mit variabler Messfleckgröße, das mit der leicht zu erlernenden Windows®-basierten QuantEZ-Software eine breite Elementabdeckung bietet. Kleinpunktanalyse von Natrium (Na) bis Uran (U) in nahezu jeder Matrix - von Feststoffen, dünnen Filmen und Legierungen bis hin zu Pulvern, Flüssigkeiten, Schlämmen und dünnen Filmen. XRF-Elementaranalyse im Feld, im Werk oder im Labor Das NEX DE wurde speziell für den Einsatz in der Schwerindustrie entwickelt, sei es im Werk oder in abgelegenen Feldumgebungen. Die überragende analytische Leistung, Flexibilität und Benutzerfreundlichkeit des NEX DE tragen zu seiner großen Attraktivität für ein immer breiteres Spektrum von Anwendungen bei, darunter Exploration, Forschung, RoHS-Inspektion von Massengütern und Ausbildung sowie industrielle und Produktionsüberwachungsanwendungen. Unabhängig davon, ob es sich um eine grundlegende Qualitätskontrolle (QC) oder deren anspruchsvollere Varianten - wie analytische Qualitätskontrolle (AQC), Qualitätssicherung (QS) oder statistische Prozesskontrolle wie Six Sigma - handelt, ist der NEX DE die zuverlässige und leistungsstarke Wahl für die routinemäßige Elementaranalyse mittels RFA. RFA mit 60 kV Röntgenröhre und SDD-Detektor Die 60-kV-Röntgenröhre und der Peltier-gekühlte Siliziumdriftdetektor bieten eine außergewöhnliche kurzfristige Wiederholbarkeit und langfristige Reproduzierbarkeit mit einer hervorragenden Auflösung der Elementspitzen. Diese Hochspannung (60 kV) in Verbindung mit einem hohen Emissionsstrom und mehreren automatisierten Röntgenröhrenfiltern bietet eine breite Palette von vielseitigen RFA-Anwendungen und niedrige Nachweisgrenzen (LOD).