UV-vis-Spektralphotometer CTech™ SoloVPE®

UVfür Forschungszweckefür Qualitätskontrolle

Das Ctech™ SoloVPE® System erschließt die Leistungsfähigkeit der Slope-Spektroskopie mit seiner einzigartigen und patentierten Technologie der variablen Schichtdicke (VPT). Vermeiden Sie kostspielige Verdünnungen mit dieser einfachen, aber leistungsstarken Lösung mit variabler Schichtdicke, die schnelle und genaue Ergebnisse liefert. Im Gegensatz zur Einzelwertabhängigkeit herkömmlicher UV-Vis-Methoden charakterisiert die datenintensive Slope-Methode die Proben, indem sie mehrere Absorptionsdatenpunkte bei verschiedenen Schichtdicken erfasst, um eine Schnittkurve (Absorption vs. Schichtdicke) zu erstellen. Die Schnittkurve wird dann in Echtzeit analysiert, um die Linearität in Übereinstimmung mit dem Beer-Lambert-Gesetz zu überprüfen. Der lineare Bereich der Schnittkurve ist direkt proportional zur Konzentration der Probe, basierend auf dem Extinktionskoeffizienten der Probe. Das Ergebnis? Das SoloVPE-System meldet Konzentrationsergebnisse in weniger als 60 Sekunden. Die SoloVPE-Lösung ist in der Lage, Spektral- und Festpunktmessungen bei Wellenlängen zwischen 190 nm und 1100 nm bei Schichtdicken zwischen 5 Mikrometern und 15 Millimetern vorzunehmen und lässt sich an eine breite Palette von Probentypen und -konzentrationen anpassen. Die Methode des SoloVPE-Systems hat sich als genau, präzise und robust erwiesen. Daher kann sie einfach und erfolgreich gemäß den Anforderungen von ICH Q2(R1) validiert werden. Die variable Schichtlängentechnologie ermöglicht R2-Werte von ≥0,999 und beweist damit die robuste Konsistenz von System zu System. Steilheitsspektroskopie-Methoden: Das erste und einzige Slope-Spektrometer, das Messungen auf Basis der Slope-Spektroskopie ermöglicht. Das SoloVPE-System nutzt die Vorteile von Slope-Ergebnissen, die auf mehreren Datenpunkten statt auf einem einzelnen Absorptionswert basieren. Schnelle Probencharakterisierung: Schnelle Charakterisierung von Proben bei verschiedenen Wellenlängen