Optischer Profilometer TopMap Micro.View®+

Multifunktion3DTopographie

Micro.View+® ist die neue Generation optischer 3D-Profilometer. Als modulare Messstation bietet sie Konfigurationsmöglichkeiten und viele Freiheitsgrade für die verlässliche, hochgenaue Prüfung selbst feinster Oberflächendetails wie Rauheit, Textur und Mikrostrukturen. Flächenhafte 3D-Messdaten sowie Farbdarstellungen erlauben aussagekräftige Visualisierungs- und Analyseformen sowie die professionelle Dokumentation von Defekten. Die 5 MP Kamera nimmt 3D-Messbilder bis ins letzte Detail auf. Highlights High-end Weißlichtinterferometer mit nm Auflösung 100 mm vertikaler Messbereich mit CST Continuous Scanning Technology Focus Finder und Focus Tracker ideal für automatisierte Fertigungskontrolle Kein Nachpositionieren dank motorisierter Tip-Tilt Stage und Revolver Farbmodus für die professionelle Analyse und Dokumentation von Defekten Modular für anwendungsspezifische Konfigurationen Automatisierbar auch als in-line Qualitätskontrolle Umfangreiches Zubehör erleichtert und beschleunigt die Messvorgänge signifikant. Während Focus Finder und Focus Tracker Prüflinge unter allen Umständen stets im Fokus behalten, unterstützen voll-motorisierte Positioniereinheiten das Stitching und automatisierte Prüfprozesse. Charakterisieren Sie kleine Details und Mikrostrukturen berührungsfrei und in 3D, werten Sie die flächige Oberflächenrauheit Sa mit sub-nm-Auflösung aus und bewerten Sie selbst steile Winkel mit interferometrischer Präzision. Micro.View und Micro.View+ sind Oberflächenprofiler basierend auf der Kohärenz-Scanning Technologie und weisen eine hervorragende vertikale Auflösung unabhängig der Vergrößerung auf. Mit Continuous Scanning Technology (CST),