Spotlight™ IR-Mikroskopsysteme wurden entwickelt, um den Herausforderungen eines expandierenden Labors gerecht zu werden, indem sie hochwertige, reproduzierbare Daten von einer Vielzahl von Probentypen erzeugen. Das Spotlight umfasst intelligente Technologie und einfache Bedienung, um die heutigen und zukünftigen Herausforderungen zu meistern.
Übersicht
Das Spotlight 200i FT-IR-Mikroskopiesystem wurde mit modernster Technologie entwickelt, um eine intelligente Automatisierung und hochentwickelte Analysefunktionen zu ermöglichen. Das System verwendet einen leistungsstarken Einpunktdetektor, der die beste Empfindlichkeit bietet, während die Weißlicht-LED-Beleuchtung für hervorragende sichtbare Bilder sorgt. Darüber hinaus kann das Spotlight 200i auch zum Spotlight 400 Imaging System aufgerüstet werden.
Zu den einzigartigen Merkmalen des Spotlight 200i Systems gehören:
Hochwertige spektrale Produktion von Probenbereichen mit Beugungsgrenzen von nur 10 Mikrometern
Erkennung von Interessensgebieten (ROI) für die einfache Analyse mehrerer Partikel und Schichten auf einmal
Möglichkeit des Betriebs im Transmissions-, Reflexions- und automatischen Mikro-ATR-Modus für maximale Flexibilität bei der Probenahme
Konfigurierbarkeit für den Einsatz mit mittlerem IR, nahem IR oder Dual Range FT-IR mit den Systemen Frontier™ oder Spectrum Two™, um in kürzester Zeit ein Maximum an Informationen aus den Proben zu gewinnen.
Das Spotlight 200i FT-IR-Mikroskopiesystem kann so konfiguriert werden, dass es Ihre Anforderungen an die FT-IR-Mikroskopie erfüllt und qualitativ hochwertige Spektren von extrem kleinen Proben erzeugt. In der Konfigurationstabelle unten finden Sie die Standardoptionen.
Auswahl eines Einzelelement-MCT-Detektors (Quecksilber-Cadmium-Tellurid) (Mittelband- oder Breitbanddetektor),
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