Optisches Mikroskop AX
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Optisches Mikroskop - AX - Nikon Instruments - Labor / aufrecht / Invers
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Eigenschaften

Typ
optisch
Anwendungsbereich
Labor
Ergonomie
aufrecht, Invers
Mikroskopkopf
binokular
Beobachtungstechnik
Konfokal
Konfigurierung
Tisch
Lichtquelle
Laser
Räumliche Auflösung

Min: 405 nm

Max: 785 nm

Beschreibung

Seit über 25 Jahren sind konfokale Mikroskope kommerziell erhältlich. Wie können iterative Entwicklungsprozesse an einer vom Prinzip her relativ gut verstandenen Mikroskopiermethode weiterhin innovativ sein? Welche Änderungen können neu definieren, wie ein konfokales Mikroskop verwendet wird, und welche neuartigen Daten können gesammelt werden? Nikon stellt jetzt das konfokale Mikroskopsystem AX/AX R vor. Unser konfokaler Point-Scanner der 10. Generation bietet Ihnen von allem mehr: die Nutzung künstlicher Intelligenz (KI), die erweiterte Anzahl der Farbkanäle, die Verbesserung der Pixeldichte, die gesteigerte Empfindlichkeit und Geschwindigkeit. Diese signifikanten Neuheiten erweitern den Gestaltungsspielraum für neue Experimente, wobei Nutzbarkeit und Funktionalität des gesamten Mikroskops umfassender werden, und das bei einer hochgradigen Modularität und Ausbaubarkeit. Hauptmerkmale Größerer Probenbereich auf einen Blick Mit dem größten, aktuell verfügbaren Sehfeld (25 mm Diagonale) sowohl für inverse als auch für aufrechte Mikroskope werden größere Bereiche der Probe (=Gesichtsfelder, FOV) als je zuvor mit einer so breiten Auswahl an Objektiven erfasst und dargestellt. In Verbindung mit Scanfeldern von bis zu 8.192 x 8.192 Pixel ist mit dem AX/AX R ein Abscannen über die optische Beugungsgrenze hinaus auch bei geringen Vergrößerungen möglich.

Kataloge

MiBrochure
MiBrochure
2 Seiten

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* Die Preise verstehen sich ohne MwSt., Versandkosten und Zollgebühren. Eventuelle Zusatzkosten für Installation oder Inbetriebnahme sind nicht enthalten. Es handelt sich um unverbindliche Preisangaben, die je nach Land, Kurs der Rohstoffe und Wechselkurs schwanken können.