Mehrbereichs-Spiegelmikroskopie
Verbesserte Benutzerfreundlichkeit und schnelle Analyse
Erweiterte manuelle Analysefunktionen
Kombination von automatischen und manuellen Analysen
Zusätzliche Funktionen mit CEM Viewer für NAVIS-EX
Ausführliche Informationen
Mehrflächen-Spiegelmikroskopie
Zusätzlich zur konventionellen zentralen und peripheren Spiegelmikroskopie verfügt das CEM-530 über eine Originalfunktion von NIDEK, die parazentrale Bilder erfasst. Die Kombination aus zentraler, parazentraler und peripherer Bildgebung bietet eine breitere Gesamtansicht, die für eine detaillierte morphologische und quantitative Bewertung der Endothelschicht und einzelner Zellen verwendet werden kann.
Verbesserte Benutzerfreundlichkeit und schnelle Analyse
Die 3D-Auto-Tracking- und Auto-Shot-Funktionen sorgen für eine benutzer- und patientenfreundliche Erfahrung.
Die Datenanalyse innerhalb von 2 Sekunden ermöglicht einen effizienten Patientenfluss.
Erweiterte manuelle Analysefunktionen
Zentrumspunkt
Wählen Sie den ungefähren Mittelpunkt einer Zelle. Die Zellen werden auf der Grundlage der umgebenden Punkte erkannt. Diese Methode eignet sich für Bereiche, in denen Gruppen von Zellen zusammengeballt sind.
Eckpunkt
Zeichnen Sie die Umrisse der zu analysierenden Zellen nach, indem Sie die Ecken der einzelnen Zellen auswählen. Diese Methode eignet sich für die detaillierte Identifizierung der Größe und Dimension von isolierten Zellen.
Muster auswählen
Wählen Sie ein sechseckiges Referenzmuster, das der Zellengröße entspricht, und ziehen Sie es auf die zu analysierende Zelle. Diese Methode eignet sich für eine grobe Identifizierung der Größe und Dimension der Zellen.
Kombination von automatischer und manueller Analyse
Alle drei manuellen Analysemethoden können auf demselben Bild und auf automatisch analysierten Bildern durchgeführt werden.
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