Thermoanalysegerät LFA 467 HT HyperFlash®

Die LFA 467 HT HyperFlash® basiert auf der bereits etablierten LFA 467 HyperFlash®-Technologie und erfordert durch die innovative Lichtquelle keine Einstufung in eine Laserklasse. Durch den Einsatz einer langlebigen Xenon-Lampe lassen sich Kosten für Verschleißmaterialien einsparen. Dies ermöglicht kosteneffiziente Messungen über viele Jahre hinweg. ZoomOptics – Präzise Messergebnisses durch optimiertes Sichtfeld Das patentierte ZoomOptics -System (Patent Nr.: DE 10 2012 106 955 B4 2014.04.03) optimiert das Sichtfeld des Detektors. Signalverfälschungen, die auf die unmittelbare Probenumgebung (z.B. Masken oder Blenden) zurückzuführen sind, werden somit ausgeschlossen. Die Genauigkeit der Messergebnisse steigt dadurch deutlich an. Extrem schnelle Abtastraten (bis zu 2 MHz) und extrem kurze Pulsbreiten (bis zu 20 µs) erlauben Messungen an dünnen und hoch leitenden Materialien Die Datenerfassungsrate der LFA 467 HyperFlash®-Serie wurde auf 2 MHz erhöht. Diese Datenerfassungsrate ist sowohl für den IR-Detektor als auch für den Puls-Mapping-Kanal getrennt verfügbar. Nur dadurch lassen sich Messungen an hoch leitenden und/oder dünnen Materialien, die kurze Testzeiten benötigen, zuverlässig durchführen. Für die Untersuchung von Metall-(0,3 mm) oder Polymerfilmen (30 μm) können Pulsparameter über vordefinierte Templates gewählt werden. Das patentierte Pulsmappingsystem berücksichtigt den Effekt des zeitlichen Energieeintrags in die Probe (Patent-Nr.: US7038209 B2; US20040079886; DE10242741).