XRF-Spektrometer M4L

für ForschungszweckeTischgerät

Der XRF M4L von MicrOptik ist für Laboruntersuchungen verschiedener Objekttypen konzipiert. Der Analysator verfügt über eine geräumige Messkammer mit aktorgesteuerter Abdeckung. Der freie Zugang zur gesamten Oberfläche des Messtisches ermöglicht die Einstellung von Proben beliebiger Größe. Der Analysator ist mit einem Helium-Spülkanalsystem und einem eingebauten Thermodrucker ausgestattet. Automatischer Probenehmer als Option. TECHNISCHE EIGENSCHAFTEN DES ANALYZER EXPERT 4l Kontinuierliche Betriebszeit Nicht begrenzt Zeit bei autonomer Stromversorgung Mindestens 6 Stunden Stromversorgung - AC, 50/60 Hz 100-240 V Leistungsaufnahme Messeinheit Weniger als 30 W Abmessungen der Messkammer 397x225x153 mm Höchstgewicht der gemessenen Probe Von 1 mg bis 20 kg Garantie Nicht weniger als 1 Jahr BETRIEBSBEDINGUNGEN Betriebstemperaturbereich -10°C bis +45°C Relative Luftfeuchtigkeit innerhalb des Betriebstemperaturbereichs <90%