SEM-Mikroskop JSM-IT800

Labor3DTisch

Das neue Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop JSM-IT800 vereint in einzigartiger Weise höchste Auflösung mit intuitivem Handling. Dank der neuen graphischen Nutzeroberfläche war es noch nie so einfach, licht-optische Aufnahmen, REM-Abbildungen und die Elementcharakterisierung mittels EDX in einem einheitlichen Arbeitsablauf und einem gemeinsamen Bericht zu vereinen. Mit der patentierten In-Lens Emitter-Technologie erreicht das Mikroskop selbst bei niedrigen Beschleunigungsspannungen eine hohe Auflösung und eignet sich dank des hohen Probenstromes zugleich für sämtliche analytischen Fragestellungen. Merkmale Höchstauflösende Bildgebung und Analyse selbst bei magnetischen oder isolierenden Materialien durch Einsatz einer Hybrid-Objektivlinse (HL) oder Super-Hybrid-Objektivlinse (SHL). Probenstrom ≥ 300 nA (SHL ≥ 500 nA): für extrem schnelle Analytik. In-lens Schottky Plus Feldemissions-Elektronenquelle und Doppel-Kondensorlinsen-System bieten höchste Stabilität und einen kontinuierlich regelbaren Strom. Die neue NeoEngine und verbesserte Autofunktionen ermöglichen schnelle Übergänge zwischen unterschiedlichen Betriebszuständen. JEOL ZeroMag-Funktion für stufenlosen Übergang zwischen lichtoptischer und REM-Abbildung für einfachste Probennavigation. Neue Rückstreuelektronendetektoren ermöglichen die maßgeschneiderte, applikationsoptimierte Konfiguration des Systems, bspw. mit einem flexiblen 6-Segment-Detektor oder einem hochempfindlichen Szintillator-Detektor. Einzigartige Linsenoptik für extreme Schärfentiefe und verzerrungsfreie Abbildung großer Probenstukturen.