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SEM-Mikroskop JCM-7000 NeoScope™
LaborInspektion3D

SEM-Mikroskop
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Eigenschaften

Typ
SEM
Anwendungsbereich
Labor, Inspektion
Beobachtungstechnik
3D
Konfigurierung
Tischgerät

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Messen

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Analytica China 2024
Analytica China 2024

18-20 Nov. 2024 Shanghai (China)

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    * Die Preise verstehen sich ohne MwSt., Versandkosten und Zollgebühren. Eventuelle Zusatzkosten für Installation oder Inbetriebnahme sind nicht enthalten. Es handelt sich um unverbindliche Preisangaben, die je nach Land, Kurs der Rohstoffe und Wechselkurs schwanken können.