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Optisches Mikroskop JEM-2200FS
TEMfür Forschungszweckebiologisch

optisches Mikroskop
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Eigenschaften

Typ
optisch, TEM
Anwendungsbereich
für Forschungszwecke, biologisch
Beobachtungstechnik
3D
Konfigurierung
bodenstehend
Vergrößerung

Max: 1.500.000 unit

Min: 2.000 unit

Räumliche Auflösung

Max: 0,31 nm

Min: 0,1 nm

Beschreibung

Das JEM-2200FS, ein hochmodernes analytisches Elektronenmikroskop, ist mit einer 200-kV-Feldemissionskanone (FEG) und einem spalteninternen Energiefilter (Omega-Filter) ausgestattet, der ein verlustfreies Bild ermöglicht, bei dem inelastische Elektronen eliminiert werden, was zu klaren Bildern mit hohem Kontrast führt. Und energiegefilterte Bilder, die mit Elektronen mit geringer Verlust- oder Kernverlustenergie erzeugt werden, liefern Informationen über den chemischen Zustand oder die Elemente einer Probe. Auch die Spektroskopie für die Elementaranalyse und die chemische Analyse von Proben ist verfügbar. Energiefilter in der Säule (Omega-Filter) Mit dem In-Column-Energiefilter können Sie energiegefilterte Bilder und Elektronenenergieverlustspektren erhalten. Der optimal gestaltete Filter liefert verzerrungsfrei gefilterte Bilder. Kontrollsystem Die Hauptkomponenten des JEM-2200FS, wie das optische System, der Goniometertisch und das Evakuierungssystem, sind vollständig PC-gesteuert. Dieses System liefert zuverlässig hochwertige Daten. Bildgebendes System Ein neues Abbildungssystem, das aus vierstufigen Zwischenlinsen und zweistufigen Projektorlinsen besteht, erzielt rotationsfreie, energiegefilterte TEM-Bilder und Beugungsmuster über einen weiten Bereich von Vergrößerungen und Kameralängen. Piezogesteuertes Goniometer Ein neuer Goniometertisch, der eine Piezo-Vorrichtung enthält, bietet einen reibungslosen Betrieb für die Suche von Sichtfeldern auf atomarer Ebene. Integration in andere Instrumente Das Mikroskop kann vollständig über einen PC gesteuert werden. Das Designkonzept ermöglicht die Integration von EDS-Systemen und CCD-Kameras. Anwendung Erforschung biologischer Proben in 3D über die klassische Elektronentomographie hinaus Atomar aufgelöstes Elementmapping durch EELS und XEDS in aberrationskorrigiertem STEM

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Analytica China 2024
Analytica China 2024

18-20 Nov. 2024 Shanghai (China)

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