Optisches Mikroskop JSM-IT810

SEMFE-SEMfür Biowissenschaften

Vielseitigkeit und hohe räumliche Auflösung treffen beim FE-SEM der Serie JSM-IT810 auf Automatisierung. Die kodierungsfreie Automatisierung von Bildgebung und EDS-Analyse sorgt für einen schlanken und effizienten Arbeitsablauf. Neue Funktionen sorgen für eine hohe Datenqualität und ein verbessertes Benutzererlebnis für alle SEM-Anwender. Zu den Funktionen gehören das Paket zur automatischen REM-Anpassung, eine Trapezkorrekturfunktion (nützlich für EBSD-Messungen) und die Live-3D-Oberflächenrekonstruktion zur Beobachtung der Oberflächentopografie. Die Bedienung eines FE-SEM war mit der JSM-IT810-Serie noch nie so einfach. Merkmale Automatische Beobachtungs- und Analysefunktion "Neo Action" REM-Beobachtung und EDS-Analyse können durch einfache Einstellung der Analysebedingungen und Auswahl der zu messenden Bereiche automatisiert werden. SEM-Paket zur automatischen Einstellung SEM-Paket für automatische Justierung (optional): Diese Funktion verwendet eine spezielle Probe, um die Kalibrierung der Vergrößerung, die Ausrichtung des Strahls und die Kalibrierung der EDS-Energie durchzuführen. Regelmäßige Überprüfungen stellen sicher, dass das Gerät in optimalem Zustand bleibt. Live-3D-Funktion Wählen Sie unseren mehrsegmentigen BSE-Detektor vom Typ Halbleiter, um eine Live-3D-Rekonstruktion der Probenoberfläche zu erstellen. Betrachten Sie das 3D-Bild in Echtzeit, um die Probentopologie zu überprüfen. EDS-Integration Bedienbarkeit der nächsten Generation, die die Barrieren zwischen der Beobachtung mit dem REM und der Elementaranalyse mit EDS beseitigt. Verschiedene Analysemethoden wie Punkt, Fläche, MAP und Linie können direkt auf dem Beobachtungsbildschirm reserviert werden und ermöglichen den sofortigen Start einer Analyse.