video corpo

SEM-Mikroskop JSM-IT510 InTouchScope™
für Forschungszwecke3DTischgerät

SEM-Mikroskop
SEM-Mikroskop
SEM-Mikroskop
SEM-Mikroskop
Zu meinen Favoriten hinzufügen
Zum Produktvergleich hinzufügen
 

Eigenschaften

Typ
SEM
Anwendungsbereich
für Forschungszwecke
Beobachtungstechnik
3D
Konfigurierung
Tischgerät
Vergrößerung

100 unit, 150 unit, 500 unit, 5.000 unit, 10.000 unit

Räumliche Auflösung

3 nm, 15 nm

Beschreibung

Das JSM-IT500 ist die jüngste Innovation in der beliebten JEOL InTouchScope™ Rasterelektronenmikroskopie-Baureihe. Ausgestattet mit fortschrittlichsten Analyse-Methoden, erleichtert das JSM-IT500 den kompletten Arbeitsablauf von der Probenbeladung bis hin zur Berichtsgenerierung. Merkmale Integriertes REM- und EDX-System Die Integration des REM- und EDX-Systems ermöglicht ein nahtloses Zusammenspiel zwischen Abbildungs- und Analysefunktionen. Neue "Zeromag"-Funktion Die neuen JEOL “Zeromag”-Funktion vereinfacht die Proben-Navigation signifikant. Es kann in erstmals in einem REM-System stufenlos zwischen licht-optischem Bild und REM-Abbildung gezoomt und dabei eine beliebige Anzahl an zu untersuchenden Bildbereichen ausgewählt werden. Neue LiveEDS-Funktion Bereits bei der REM-Abbildung zieht das voll-integrierte EDX-Spektrometer von JEOL permanent EDX-Spektren ein und zeigt in Echtzeit die in der Probe enthaltenen Elemente an. "SMILE VIEW™ Lab" für die integrierte Verwaltung der Bild- und Analysedaten Alle gesammelten Bilder, Analyse-Daten und Bildeinstellungen werden für eine schnelle Berichterstattung gesammelt und können individuell angepasst exportiert werden. Navigation beim Probentausch Einfache und effiziente Bedienungsunterstützung vom Probeneinbau bis hin zur Bildaufnahme. Optionen Rückstreuelektronen-Detektor (BED) Niedervakuum-Sekundärelektronen-Detektor (LSED) Energiedispersives Röntgenspektrometer (EDX) Wellenlängendispersives Röntgenspektrometer (WDS) Elektronenrückstreu-Beugung (EBSD) Probenschleuse Probennavigations-Kamera (Stage Navigation System SNS) Live-Kamera Bedienpult 3D-Messsoftware

VIDEO

Kataloge

Für dieses Produkt ist kein Katalog verfügbar.

Alle Kataloge von Jeol anzeigen

Messen

Sie können diesen Hersteller auf den folgenden Messen antreffen

Analytica China 2024
Analytica China 2024

18-20 Nov. 2024 Shanghai (China)

  • Mehr Informationen
    * Die Preise verstehen sich ohne MwSt., Versandkosten und Zollgebühren. Eventuelle Zusatzkosten für Installation oder Inbetriebnahme sind nicht enthalten. Es handelt sich um unverbindliche Preisangaben, die je nach Land, Kurs der Rohstoffe und Wechselkurs schwanken können.