SEM-Mikroskop JSM-IT510 InTouchScope™

für Forschungszwecke3DTischgerät

Das JSM-IT500 ist die jüngste Innovation in der beliebten JEOL InTouchScope™ Rasterelektronenmikroskopie-Baureihe. Ausgestattet mit fortschrittlichsten Analyse-Methoden, erleichtert das JSM-IT500 den kompletten Arbeitsablauf von der Probenbeladung bis hin zur Berichtsgenerierung. Merkmale Integriertes REM- und EDX-System Die Integration des REM- und EDX-Systems ermöglicht ein nahtloses Zusammenspiel zwischen Abbildungs- und Analysefunktionen. Neue "Zeromag"-Funktion Die neuen JEOL “Zeromag”-Funktion vereinfacht die Proben-Navigation signifikant. Es kann in erstmals in einem REM-System stufenlos zwischen licht-optischem Bild und REM-Abbildung gezoomt und dabei eine beliebige Anzahl an zu untersuchenden Bildbereichen ausgewählt werden. Neue LiveEDS-Funktion Bereits bei der REM-Abbildung zieht das voll-integrierte EDX-Spektrometer von JEOL permanent EDX-Spektren ein und zeigt in Echtzeit die in der Probe enthaltenen Elemente an. "SMILE VIEW™ Lab" für die integrierte Verwaltung der Bild- und Analysedaten Alle gesammelten Bilder, Analyse-Daten und Bildeinstellungen werden für eine schnelle Berichterstattung gesammelt und können individuell angepasst exportiert werden. Navigation beim Probentausch Einfache und effiziente Bedienungsunterstützung vom Probeneinbau bis hin zur Bildaufnahme. Optionen Rückstreuelektronen-Detektor (BED) Niedervakuum-Sekundärelektronen-Detektor (LSED) Energiedispersives Röntgenspektrometer (EDX) Wellenlängendispersives Röntgenspektrometer (WDS) Elektronenrückstreu-Beugung (EBSD) Probenschleuse Probennavigations-Kamera (Stage Navigation System SNS) Live-Kamera Bedienpult 3D-Messsoftware