Optisches Mikroskop XploRA Nano

RastersondenLaborTisch

Vollständig integriertes System auf der Grundlage des hochmodernen Rastersondenmikroskops SmartSPM und des Raman-Mikrospektrometers XploRA. Das XploRA Nano ist kompakt, vollautomatisch und benutzerfreundlich und vereint die Leistung von AFM-Raman in einem erschwinglichen und dennoch voll ausgestatteten Paket, das die TERS-Bildgebung für alle Wirklichkeit werden lässt. Das bewährte TERS-System. Multi-Proben-Analyseplattform Makro-, Mikro- und Nanomessungen können auf derselben Plattform durchgeführt werden. Benutzerfreundlichkeit Vollautomatischer Betrieb, Messbeginn innerhalb von Minuten, nicht Stunden! Echte Konfokalität Hohe räumliche Auflösung, automatisierte Mapping-Tische, vollständige Mikroskop-Visualisierungsoptionen. Hohe Effizienz der Sammlung Top-down und schräge Raman-Detektion für optimale Auflösung und Durchsatz sowohl bei kolokalisierten und Tip-Enhanced-Messungen (Raman und Photolumineszenz). Hohe spektrale Auflösung Höchste spektrale Auflösungsleistung, mehrere Gitter mit automatischer Umschaltung, Analyse eines breiten Spektralbereichs für Raman und PL. Hohe räumliche Auflösung Nanoskalige spektroskopische Auflösung (bis zu 10 nm) durch Tip Enhanced Optische Spektroskopie (Raman und Photolumineszenz). Multitechnik / Multi-Umgebung Zahlreiche SPM-Modi, darunter AFM, leitfähige und elektrische Modi (cAFM, KPFM), STM, Flüssigkeitszelle und elektrochemische Umgebung, zusammen mit chemischem Mapping durch TERS/TEPL. Vollständige Steuerung der beiden Instrumente über eine Workstation und eine leistungsstarke Software-Steuerung, SPM und Spektrometer können gleichzeitig oder unabhängig voneinander betrieben werden Robustheit/Stabilität AFM-Scanner mit hoher Resonanzfrequenz, Betrieb fernab von Geräuschen! Hohe leistung wird ohne aktive Schwingungsisolierung erreicht.