Optisches Mikroskop SU9000II

SEMLaboraufrecht

Die Cold Field Emission-Quelle ist ideal für die hochauflösende Bildgebung bei geringer Quellengröße und Energieverteilung. Die innovative CFE-Kanonen-Technologie sorgt für das ultimative FE-SEM mit hervorragender Strahlhelligkeit und -stabilität, das eine hochauflösende Bildgebung und hochwertige Elementaranalyse ermöglicht. Um eine stabile Datenerfassung auf höchstem Leistungsniveau zu ermöglichen, bietet das SU9000II neue Funktionen, die eine automatische Anpassung des optischen Systems ermöglichen, sowie das neue Softwarepaket EM Flow Creator als Option für die automatische Datenerfassung, insbesondere für die sequentielle Datenerfassung. Darüber hinaus bietet das einzigartige Design des optischen Systems die Möglichkeit der EELS für fortgeschrittene Materialanalysen. Merkmale Die neu entwickelte CFE GUN bietet hohe Helligkeit und einen extrem stabilen Emissionsstrom. Hervorragende Leistung bei niedrigen kV für die Beobachtung von strahlungsempfindlichen Materialien. Die SE-Auflösung von 0,7 nm ist selbst bei 1,0 kV Landespannung (mit optionaler Verzögerungsfunktion) garantiert. Neue Funktionen für die automatische Einstellung des optischen Systems und eine optionale Funktion für die automatische Datenerfassung ermöglichen eine sequenzielle Datenerfassung. Verbesserte Vakuumtechnologie, die UHV-Niveaus für geringere Probenkontamination ermöglicht. Hochentwickeltes Gerätegehäuse mit überlegener Festigkeit und Stabilität für hochauflösende Bildgebung unter verschiedensten Umgebungsbedingungen. Die neu entwickelte Objektivlinse ermöglicht eine hochauflösende Bildgebung bei einer niedrigen Beschleunigungsspannung. Das Probenwechselsystem mit Seiteneingang erhöht den Durchsatz, indem es die für den Probenwechsel benötigte Zeit reduziert und die Probe automatisch an der aktuellen WD positioniert.