AFM-Mikroskop AFM100 Plus

Multifunktionkleinformatig

Die AFM100-Serie ist Hitachis Sondenmikroskopie-Plattform der nächsten Generation. Die Systeme AFM100 Plus und AFM100, die diese Serie bilden, wurden entwickelt, um die Möglichkeiten und die Leistung der Rasterkraftmikroskopie zu erweitern und gleichzeitig eine einfach zu bedienende Plattform zu bieten, die für Benutzer aller Erfahrungsstufen geeignet ist. Erleben Sie höchste Zuverlässigkeit und Innovation mit der AFM100-Serie. Merkmale Herausforderungen bei der Handhabung von konventionellen Auslegern - Aufgrund seiner geringen Größe ist es schwierig, einen Cantilever mit herkömmlichen Pinzetten zu greifen. - Freischwinger lassen sich sehr leicht durch leichten Druck beschädigen. - Eine unterschiedliche Einbaulage kann zu Problemen bei der Ausrichtung und Bedienung führen. Vormontierte Kragarme rationalisieren den Prozess für höhere Effizienz und Konsistenz - Einfaches Verfahren zur Montage der Spitze in einem Schritt - Einfache Handhabung ohne Risiko einer physischen Beschädigung - Garantierte Konsistenz der Spitzenausrichtung - Zuverlässige mechanische und elektrische Eigenschaften Automatisierte Messung und Analyse mit Autopilot-Funktion mit nur einem Klick Führen Sie Messungen und Analysen mit nur einem Klick durch! - Automatische Mehrpunktmessung innerhalb einer Probe - Kontinuierliche Messung von mehreren Proben ► Verbesserung des Gesamtdurchsatzes Automatische Anpassungen mit RealTune® Il RealTune* II: Eine Funktion zur automatischen Anpassung der Parameter ► Automatisierte Optimierung der Abbildungsbedingungen - SIS: Intelligente Abtastung ► Exzellente Abtastspitzenverfolgung auch bei Oberflächenmerkmalen mit hohem Aspektverhältnis ► Geringerer Tastkopfverschleiß und längere Lebensdauer Korrelative SEM-EDS-Analyse mit unserer AFM-Markierungsfunktion Analysieren Sie dieselbe Region von Interesse (ROI) mit SEM, EDS und AFM: Mehr Informationen = bessere Ergebnisse!