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FIB-Mikroskop NX9000
FIB-SEMbiologischLabor

FIB-Mikroskop - NX9000 - Hitachi High-Tech Europe GmbH - FIB-SEM / biologisch / Labor
FIB-Mikroskop - NX9000 - Hitachi High-Tech Europe GmbH - FIB-SEM / biologisch / Labor
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Eigenschaften

Typ
FIB, FIB-SEM
Anwendungsbereich
Labor, für Forschungszwecke, biologisch
Beobachtungstechnik
3D
Konfigurierung
bodenstehend
Elektronenquelle
mit kalter Feldemission
Weitere Eigenschaften
Hochauflösung, mit hohem Kontrast
Räumliche Auflösung

1,6 nm, 2,1 nm, 4 nm

Beschreibung

In diesem einzigartigen System stehen die Ga-FIB- und FE-SEM-Säulen im rechten Winkel zueinander. Diese Konfiguration ist ideal für Anwendungen, bei denen große Volumina (biologisches Gewebe, Materialien mit großen Kornstrukturen, Halbleiterbauteile usw.) in 3D ohne Verzerrung und mit höchster Auflösung analysiert werden sollen, auch bei sehr breiten Sichtfeldern. die 3D-EBSD-Analyse kann auch mit einer vollständig stationären Probe durchgeführt werden, d. h. ohne Probenbewegung zwischen FIB-Schneiden und EBSD-Schichtanalyse.

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Messen

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CONTROL 2025
CONTROL 2025

6-09 Mai 2025 Stuttgart (Deutschland)

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    Analytica 2026
    Analytica 2026

    24-27 März 2026 München (Deutschland)

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