STEM-Mikroskop HF5000

SEMTEMLabor

Hitachis einzigartiges, aberrationskorrigiertes 200-kV-TEM/STEM: die perfekte Harmonie von Bildauflösung und analytischer Leistung 0.die räumliche Auflösung von 078 nm im STEM wird zusammen mit einer hohen Probenschwenkbarkeit und einem EDX-Detektor mit großem Raumwinkel erreicht, und das alles in einer einzigen Objektivkonfiguration. Das HF5000 baut auf den Funktionen des dedizierten STEM HD-2700 von Hitachi auf, einschließlich Hitachis eigenem vollautomatischen Aberrationskorrektor, symmetrischem Dual-SDD-EDX und Cs-korrigiertem SE-Imaging. Es beinhaltet auch die fortschrittlichen TEM/STEM-Technologien, die in der HF-Serie entwickelt wurden. Die Integration dieser Technologien in eine neue 200-kV-TEM/STEM-Plattform führt zu einem Gerät mit einer optimalen Kombination aus Sub-A-Bildgebung und Analyse sowie der Flexibilität und den einzigartigen Fähigkeiten, die für die fortschrittlichsten Studien erforderlich sind. Merkmale Hitachi vollautomatischer Korrektor für sphärische Aberration durch Sondenbildung Kalte FE-Elektronenkanone (Cold FEG) mit hoher Helligkeit und hoher Stabilität Ultrastabile Säule und Stromversorgungen für verbesserte Geräteleistung Gleichzeitige Cs-korrigierte SEM- und STEM-Abbildungsfunktion mit atomarer Auflösung Neuer hochstabiler Seiteneingangsprobentisch und Probenhalter Symmetrisch gegenüberliegende doppelte 100 mm2 EDX*-Detektoren: "Symmetrical Dual SDD*" Neu konzipiertes Gehäuse für optimale Leistung in realen Laborumgebungen Eine große Auswahl an fortschrittlichen Hitachi-Probenhaltern Hochhelles Cold FEG×Hochstabiles×Hitachi automatischer Aberrationskorrektor Der neue hochstabile Cold FEG verwendet eine gründlich überarbeitete Version der seit langem etablierten Hitachi-Technologie der kalten Feldemissions-Elektronenquelle.