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SEM-Mikroskop TM4000 series
optischLaborTopographie

SEM-Mikroskop
SEM-Mikroskop
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Eigenschaften

Typ
optisch, SEM
Anwendungsbereich
Labor
Beobachtungstechnik
Topographie, Atomzahlkontrast
Konfigurierung
Tischgerät, kompakt
Vergrößerung

Max: 250.000 unit

Min: 10 unit

Gewicht

54 kg
(119 lb)

Länge

614 mm, 617 mm
(24,2 in, 24,3 in)

Breite

330 mm
(13 in)

Höhe

547 mm
(21,5 in)

Beschreibung

Die TM4000-Serie zeichnet sich durch Innovationen und Spitzentechnologien aus, die die Möglichkeiten eines Tischmikroskops neu definieren. Diese neue Generation der seit langem bewährten Hitachi-Tischmikroskope (TM) vereint Benutzerfreundlichkeit, optimierte Bildgebung und hohe Bildqualität, wobei das kompakte Design der bewährten Hitachi-Produkte der TM-Serie erhalten bleibt. Erleben Sie die neue Dimension der Tischmikroskope mit dem Hitachi TM4000 II und TM4000Plus II. Merkmale Ein hochwertiges Bild kann mit einfachen Schritten erzielt werden. Automatisierung, Beobachtung und Elementaranalyse Intuitive Bedienung von Camera Navi * Die Verwendung optischer Bilder erleichtert die Navigation zum Zielbeobachtungsgebiet. Gewonnene SEM-Bilder können über ein SEM-MAP-Bild gelegt werden. Bericht-Ersteller Wählen Sie einfach Bilder und eine Vorlage aus, um einen individuellen Bericht zu erstellen. Die erstellten Berichte können in Microsoft Office®-Formaten gespeichert/bearbeitet werden. Verschiedene Bildgebungsanwendungen mit 4-unter-Niedrig-Vakuum-Status. Modus zur Reduzierung der Aufladung Bebilderung einer Vielzahl von Materialien unter Niedrigvakuumbedingungen Die Bilder zeigen Beobachtungen von nichtleitenden Proben wie Tintentonerpartikeln und einer hydratisierten Blattoberfläche. Verschiedene Bildgebungsanwendungen unter Verwendung des 4-unter-Niedervakuum-Status. Innovativer Sekundärselektionsdetektor zur Erzielung von Oberflächendetails bei nichtleitenden Proben unter Niedrigvakuumbedingungen Mit dem TM4000Plus II können nicht nur leitfähige Proben, sondern auch nicht leitfähige oder hydratisierte Proben ohne Probenvorbereitung untersucht werden. Die Umschaltung zwischen BSE und SE ist einfach möglich. Hochempfindlicher Niedervakuum-SE-Detektor (UVD) Der UVD von Hitachi erzeugt Sekundärelektronenbilder, indem er sichtbares Licht erkennt, das durch die Wechselwirkung von Elektronen mit Gas angeregt wird.

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VIDEO

* Die Preise verstehen sich ohne MwSt., Versandkosten und Zollgebühren. Eventuelle Zusatzkosten für Installation oder Inbetriebnahme sind nicht enthalten. Es handelt sich um unverbindliche Preisangaben, die je nach Land, Kurs der Rohstoffe und Wechselkurs schwanken können.