Rasterelektronenmikroskop SU3800/3900 Family

InspektionMultifunktionfür Forschungszwecke

Bei der SU3800/3900 VP-SEM-Familie liegt der Schwerpunkt auf der Produktivität. Diese Werkzeuge automatisieren sich wiederholende Aufgaben, sodass Sie in kurzer Zeit und mit geringem manuellem Aufwand reproduzierbare Ergebnisse erzielen können. Es stehen zwei verschiedene Probenkammern mit Wolfram- oder Schottky-Feldemissionsoptiken zur Verfügung. Sowohl das SU3800 als auch das SU3900 verfügen über eine gemeinsame Software, Elektronik und Detektorplattform. Produktmerkmale: - Hocheffiziente Hitachi-Detektoren: -- Sekundärelektronendetektor für Hochvakuum -- 5-Segment-Halbleiter-Rückstreuelektronendetektor für Hoch- und Niedervakuum, auswahl von verschiedenen Signalmodi wie Materialkontrast, Oberflächentopographie, 3D -- Optionaler Multifunktionsdetektor "UVD": Sekundärelektronen im Niedervakuum, Kathoden lumineszenzsignal, Transmission (STEM, in Verbindung mit speziellem Probenhalter) - Feldfreie, moderne Elektronenoptiken wahlweise mit Schottky-Feldemitter oder mit robusten, preiswerten und dank intelligenter Steuerung langlebigen Wolfram-Haarnadelkathoden - Einfache Handhabung auch von nicht elektrisch leitfähigen Proben durch den integrierten effektiven Niedervakuum-Betriebsmodus, der bei Bedarf per Mausklick umgeschaltet werden kann - Für den perfekten Überblick: Farbige Navigationsbilder der Probenplatten decken den gesamten im REM sichtbaren Probenbereich ab - Unbeschwertes Arbeiten - Kollisionen zwischen Tisch und REM-Komponenten sind durch die automatisch angelegte, dynamische Verfahrbereichsbegrenzung nahezu ausgeschlossen