Rasterelektronenmikroskop SU series

MultifunktionDesktop

Die Rasterelektronenmikroskope SU3800/SU3900 von Hitachi High-Tech bieten sowohl Bedienbarkeit als auch Erweiterbarkeit. Der Bediener kann viele Vorgänge automatisieren und ihre hohe Leistung effizient nutzen. Das SU3900 ist mit einer großen Mehrzweck-Probenkammer ausgestattet, die die Beobachtung großer Proben ermöglicht. Merkmal 1.Erheblich größere Probenkammer für übergroße und schwere Proben ■Robuster Tisch für Flexibilität bei Probengröße, -form und -gewicht Die Probenwechselsequenz verhindert mögliche Schäden am System oder an der Probe. Der Austausch der Proben erfolgt ohne Entlüftung des Probenraums, was den Durchsatz erhöht. Erhöhen Sie die Probenmanipulation mit dem Stage Free Mode*. Das Chamber Scope erhöht die Sicherheit von Tischbewegungen*. vergrößerter Sichtbereich - REM MAP erweitert die Grenzen der Probennavigation Integriertes Kameradisplay in der Kammer Einfaches Navigieren im gesamten Beobachtungsgebiet Detektororientierte Rotation 2.Entwicklung des Marktes - Verbesserte Automatikfunktionen für Bediener aller Qualifikationsstufen vielfältige Betriebsmodi ■ Automatikfunktionen für Bediener aller Qualifikationsniveaus Verbesserte automatische Algorithmen - 3x schneller (im Vergleich zum Hitachi Modell S-3700N) Verbesserte Autofokus-Funktion Merkmale der von uns entwickelten Intelligent Filament Technology (IFT): ■Multi Zigzag ermöglicht eine weiträumige Beobachtung über mehrere Bereiche hinweg. ■Report Creator erstellt Berichte über die erfassten Daten. 3.Integrierte Lösungen für verschiedene Anwendungen ■Eine Vielzahl von Zubehörteilen, die an jedem der 20 Anschlüsse der innovativen Probenkammer SU3900 angebracht werden können. ■SEM/EDS-Integrationssystem* ■Hochempfindliche Detektoren, die alle Beobachtungsanforderungen erfüllen CL-Beobachtung mit UVD*