CFE-SEM-Mikroskop SU8600
für Forschungszwecke3Dbodenstehend

CFE-SEM-Mikroskop - SU8600 - Hitachi High-Tech Europe GmbH - für Forschungszwecke / 3D / bodenstehend
CFE-SEM-Mikroskop - SU8600 - Hitachi High-Tech Europe GmbH - für Forschungszwecke / 3D / bodenstehend
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Eigenschaften

Typ
CFE-SEM
Anwendungsbereich
für Forschungszwecke
Beobachtungstechnik
3D
Konfigurierung
bodenstehend
Elektronenquelle
mit kalter Feldemission
Detektortyp
Rückstreuelektronen, mit energiedispersivem Röntgendetektor
Weitere Eigenschaften
ultrahochauflösend, automatisiert
Vergrößerung

Max: 2.000.000 unit

Min: 20 unit

Räumliche Auflösung

0,6 nm, 0,7 nm

Beschreibung

Das SU8600 ist das Nachfolgemodell der bewährten Regulus-Feldemissions-SEM-Familie und erfüllt höchste Anforderungen für abbildungsorientierte Anwendungen. Der Kaltfeldstrahler mit seiner nahezu monochromatischen Emission in Kombination mit einer magnetischen Immersionslinse macht eine Strahlverstärkung überflüssig. So bietet es eine hervorragende Auflösung auch bei niedrigen Strahlenergien und eine genaue, stabile Signaltrennung nach Strahlwinkel und Energie. Das SU8600 CFE-SEM bietet auch Spitzenleistungen bei analytischen Arbeiten mit spezifischen Detektoren. So können Sie beispielsweise fensterlose EDX-Detektoren für eine optimale Analyse leichter Elemente hinzufügen. Diese können mit dem SU8600 im gesamten Strahlenergiebereich bis 30keV und dank der magnetischen Immersionslinse bei kürzesten Arbeitsabständen ab 4 mm eingesetzt werden. Oder Sie kombinieren das SEM mit dem Bruker FlatQuad EDX-Detektor mit über 1sr Raumwinkel für maximale Signaleffizienz. Es sind Probenströme bis zu 20nA verfügbar. Produktmerkmale: - Sehr langlebiger, nahezu monochromatischer Hitachi-Feldemitter kombiniert mit magnetischer Immersionslinse - Umfangreiches, flexibel konfigurierbares Detektorsystem mit feiner Energiefilterung ermöglicht zusammen mit der 6-Kanal-Live-Bildanzeige eine umfassende Probenbeurteilung - Harmoniert gut mit fensterlosen EDX-Detektoren - Zuverlässige, automatisierte Funktionen sorgen für ein einfach zu bedienendes und leistungsstarkes REM. Zu diesen Funktionen gehören die Einstellung benutzerdefinierter Beobachtungsbedingungen, ein hervorragender 2D-Autofokus und ein Auto-Stigmator, usw. - Die Probenwechselkammer ermöglicht eine schnelle und saubere Beladung von Proben mit einem Durchmesser von bis zu 150 mm. Der exzentrische 5-Achsen-Probentisch hat einen X- und Y-Verfahrbereich von 110 mm x 110 mm

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Messen

Sie können diesen Hersteller auf den folgenden Messen antreffen

ESCMID Global 2025
ESCMID Global 2025

11-15 Apr. 2025 VIENNA (Österreich)

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    CONTROL 2025
    CONTROL 2025

    6-09 Mai 2025 Stuttgart (Deutschland)

  • Mehr Informationen
    * Die Preise verstehen sich ohne MwSt., Versandkosten und Zollgebühren. Eventuelle Zusatzkosten für Installation oder Inbetriebnahme sind nicht enthalten. Es handelt sich um unverbindliche Preisangaben, die je nach Land, Kurs der Rohstoffe und Wechselkurs schwanken können.