FE-SEM-Mikroskop SU9000II

SEMTEMfür Forschungszwecke

Die Cold Field Emission-Quelle ist ideal für die hochauflösende Bildgebung bei geringer Quellengröße und Energieverteilung. Die innovative CFE-Kanonen-Technologie sorgt für das ultimative FE-SEM mit hervorragender Strahlhelligkeit und -stabilität, das eine hochauflösende Bildgebung und hochwertige Elementaranalyse ermöglicht. Um eine stabile Datenerfassung auf höchstem Leistungsniveau zu ermöglichen, bietet das SU9000II neue Funktionen, die eine automatische Anpassung des optischen Systems ermöglichen, sowie das neue Softwarepaket EM Flow Creator als Option für die automatische Datenerfassung, insbesondere für die sequentielle Datenerfassung. Darüber hinaus bietet das einzigartige Design des optischen Systems die Möglichkeit der EELS für fortgeschrittene Materialanalysen. Übersicht Das SU9000II ist das neue Premium-SEM von HITACHI. Es verfügt über eine einzigartige Elektronenoptik, bei der die Probe in einem Spalt zwischen dem oberen und unteren Teil des Objektivpolstücks positioniert ist. Dieses so genannte True-in-Lens-Konzept - kombiniert mit der nächsten Generation der Kaltfeldemissionstechnologie von HITACHI - garantiert die höchstmögliche Systemauflösung (SE-Auflösung 0,4 nm bei 30 kV, 0,7 nm bei 1,0 kV [mit optionaler Verzögerungsfunktion]) und Stabilität. Neue kohärente Kaltfeld-Emissionsquelle Um dieses Auflösungsvermögen für praktische Anwendungen in Ihrem Labor nutzbar zu machen, verwendet das SU9000II einen ultrastabilen Probentisch mit seitlichem Eintritt, ähnlich wie bei High-End-TEM-Systemen, und verfügt über eine optimierte Vibrationsdämpfung und ein geschlossenes Gehäuse, um die Elektronenoptik vor Umgebungsgeräuschen zu schützen. Darüber hinaus bietet das Reinvakuumkonzept des SU9000II ein Vakuumniveau in der Kanone und der Probenkammer, das um eine Größenordnung besser ist als bei der vorherigen Generation,