Mikroskop / elektrrochemisches Rastermikroskop ELP 1

Laborfür ForschungszweckeTisch

Der HEKA ElProScan ist ein elektrochemischer Sondenscanner für verschiedene Untersuchungen von elektrochemisch aktiven Oberflächen. Er gehört zur Familie der Rastermikroskope wie AFM, STM oder SECM. Das System besteht aus drei Haupteinheiten, einem Positionierungssystem, einem Bipotentiostat/Galvanostat und einem Datenerfassungssystem. Das Positionierungssystem bewegt eine Ultramikroelektrode in drei Dimensionen über eine elektrochemisch aktive Oberfläche in Lösung. Auf diese Weise kann das ElProScan wie ein normales SECM verwendet werden, aber es ist viel mehr als das. Der Hauptunterschied besteht in der Anwendung einer beliebigen elektrochemischen Methode (frei programmierbares Pulsprotokoll) an der Spitze und nicht nur in der Aufzeichnung von Spitzenströmen. Während des Protokolls kann eine unabhängige Methode auf die Probe angewendet werden und gleichzeitig mit der an der Spitze angewandten Methode laufen. ElProScan kann daher auch für die aktive elektrochemische Oberflächenmodifikation verwendet werden. Das HEKA ElProScan-System ist für eine breite Palette von Anwendungen konzipiert, wie z. B. verschiedene Arten von Oberflächenanalysen, Metallabscheidung, Abscheidung leitfähiger Polymere, Abbildung von Enzymaktivitäten und katalytischen Zentren, um nur einige zu nennen. Der HEKA ElProScan ist ein integriertes System, das die Steuerung aller Komponenten durch ein Softwareprogramm ermöglicht und aus Hardwarekomponenten in wissenschaftlicher Qualität besteht, um eine optimale Leistung zu erzielen. Der HEKA ElProScan ist das einzige System, das Messungen in einem extrem weiten Strombereich bis zu 2 A durchführen kann. Er arbeitet auch als Standard-(Bi-)Potentiostat/Galvanostat und ist somit auch für viele andere elektrochemische Anwendungen einsetzbar.