Raman-Mikroskop Icon

AFMfür MaterialforschungTischgerät

Das Icon AFM-Raman-System vereint die sich ergänzenden Techniken der Rasterkraftmikroskopie und der Raman-Mikroskopie, um wichtige Informationen über die Topographie und die chemische Zusammensetzung einer Probe zu liefern. Wenn diese Techniken mit fortschrittlichen AFM-Modi, wie der Bruker-exklusiven PeakForce TUNA™ elektrischen Charakterisierung und dem PeakForce QNM® quantitativen nanomechanischen Mapping, erweitert werden, können Forscher die Mechanismen, die zu bestimmten Materialeigenschaften führen, besser verstehen. Korreliert AFM- und u-Raman-Daten Ermöglicht ko-lokalisierte Messungen mit unübertroffener Effizienz und Leichtigkeit. Erweiterte AFM-Modi Helfen den Forschern, die Mechanismen besser zu verstehen, die zu bestimmten Materialeigenschaften führen. Bewährt Setzt einen neuen Leistungsstandard für Mikro-Raman-Forschungsmöglichkeiten. Konfigurationsstabilität und Flexibilität Das AFM-Raman-System, bestehend aus dem Dimension Icon® AFM und einem konfokalen Raman-Forschungsmikroskop (Horiba, LabRam), befindet sich auf einer einzigen, starren, schwingungsfreien Plattform. Diese Konfiguration ermöglicht es dem System, die volle Funktionalität jedes einzelnen Instruments beizubehalten und eine optimale kombinierte Leistung zu erzielen. So ermöglicht die Konfiguration beispielsweise die vollständige Ergänzung von Icon-Upgrades, AFM-Modi und benutzerfreundlichen Funktionen, einschließlich des Bruker-exklusiven ScanAsyst®. Sie sind in der Lage, die effektivste Kombination von Modi für Ihre Anwendung zusammenzustellen. Nahtlose Integration von Technik und Analyse Innerhalb von Sekunden kann eine Probe zwischen den beiden Techniken hin- und herbewegt werden, ohne dass es zu Störungen kommt. AFM- und spektroskopische Messungen desselben Probenbereichs werden nacheinander durchgeführt, ohne dass die Gefahr einer Fehlausrichtung oder ungenauen Lokalisierung von Merkmalen besteht.