AFM-Mikroskop Icon®

für ForschungszweckebodenstehendHochauflösung

Das Dimension Icon® von Bruker bietet Forschern in Wissenschaft und Industrie im Nanobereich ein Höchstmaß an Leistung, Funktionalität und AFM-Zugänglichkeit. Es baut auf der weltweit meistgenutzten AFM-Plattform für große Proben auf und ist der Höhepunkt jahrzehntelanger technologischer Innovation, Kundenfeedback und branchenführender Anwendungsflexibilität. Das System wurde von Grund auf neu entwickelt, um die revolutionäre geringe Drift und das geringe Rauschen zu erreichen, die es den Anwendern ermöglichen, artefaktfreie Bilder innerhalb von Minuten statt Stunden zu erhalten. Höchste Leistung spitzenscanner Bietet eine unübertroffene Auflösung für große Proben mit offenem Rauschpegel, reduziertem Grundrauschen und Driftraten von <200 pm. Einfach produktivität Erstaunlich einfache Einrichtung, intuitiver Arbeitsablauf und schnelle Ergebnisse für Daten in Publikationsqualität - jederzeit. Vielseitig open-Access-Plattform Ermöglicht eine große Vielfalt an Experimenten, Modi, Techniken und halbautomatischen Messungen. MERKMALE Höchste Leistung und Auflösung Die überragende Auflösung des Dimension Icon in Verbindung mit den proprietären elektronischen Scan-Algorithmen von Bruker bietet dem Anwender eine deutliche Verbesserung der Messgeschwindigkeit und -qualität. Das Icon ist die Krönung der branchenführenden Spitzen-AFM-Technologie von Bruker mit temperaturkompensierenden Positionssensoren, die Rauschpegel im Sub-Angström-Bereich für die Z-Achse und Angström in XY ermöglichen. Dies ist eine außergewöhnliche Leistung für ein System mit großen Proben und einem Scanbereich von 90 Mikrometern und übertrifft die Rauschwerte von hochauflösenden AFMs im offenen Regelkreis.