Rasterkraftmikroskop FastScan®

biologischfür Materialforschungaufrecht

Das Dimension FastScan® Rasterkraftmikroskop (AFM) wurde speziell für schnelles Scannen ohne Auflösungsverlust, Verlust der Kraftkontrolle, zusätzliche Komplexität oder zusätzliche Betriebskosten entwickelt. Mit FastScan erhalten Sie sofortige AFM-Bilder mit der erwarteten hohen Auflösung eines Hochleistungs-AFMs. Ganz gleich, ob Sie mit >125 Hz scannen, wenn Sie eine Probe untersuchen, um den interessierenden Bereich zu finden, oder mit Zeitraten von 1 Sekunde pro Bild in Luft oder Flüssigkeit, FastScan definiert das AFM-Erlebnis neu. Keine Kompromisse hochgeschwindigkeitsleistung Liefert jederzeit höchste Auflösung, unabhängig von der Probengröße. Echtzeit dynamik auf der Nanoskala Ultimative Abtastgeschwindigkeit und Stabilität für die direkte Visualisierung des dynamischen Verhaltens in Luft oder Flüssigkeit. Automatisiert einrichtung, Datenerfassung und Analyse Das macht den Betrieb des Systems überraschend einfach und steigert gleichzeitig die Produktivität, so dass Sie sich auf Ihre Forschung konzentrieren können. MERKMALE Benchmark für hohe Geschwindigkeit und hohe Auflösung Dimension FastScan ist das erste und einzige Hochgeschwindigkeits-Spitzenabtastsystem, das eine Abtastrate von Bildern pro Sekunde erreicht, ohne Kompromisse bei der Auflösung oder der Systemleistung einzugehen - unabhängig von der Probengröße. Kein anderes Hochgeschwindigkeits-AFM hat einen so großen Probenzugang wie das FastScan. In Verbindung mit dem PeakForce Tapping® erreicht das System eine sofortige Kraftmessung mit einem linearen Regelkreis, der eine punktuelle Defektauflösung und mechanische Auflösung ermöglicht, und das nicht nur bei harten, flachen Kristallen. Außergewöhnliche Produktivität Jeder Aspekt des Dimension FastScan - von der weit geöffneten Spitze und dem Zugang zur Probe bis hin zu den vorkonfigurierten Softwareeinstellungen - wurde speziell für einen störungsfreien, überraschend einfachen Betrieb entwickelt.