Das optische Profilometer ContourX-200 bietet die perfekte Mischung aus fortschrittlicher Charakterisierung, anpassbaren Optionen und Benutzerfreundlichkeit für eine schnelle, genaue und wiederholbare berührungslose 3D-Oberflächenmessung der Spitzenklasse. Das lehrenfähige System mit geringem Platzbedarf bietet kompromisslose hochauflösende 2D/3D-Messfunktionen mit einer 5 MP-Digitalkamera mit größerem Sichtfeld und einem neuen motorisierten XY-Tisch. Mit seiner unübertroffenen Auflösung und Genauigkeit in der Z-Achse bietet das ContourX-200 alle branchenweit anerkannten Vorteile der proprietären Weißlicht-Interferometrie (WLI) von Bruker ohne die Einschränkungen herkömmlicher konfokaler Mikroskope und konkurrierender optischer Standard-Profiler.
Automatisierung
fähigkeiten
Ermöglicht Routinen für schnellere Messungen und Analysen.
Motorisiert
XY-Tisch
Ermöglicht einen geräuscharmen Hochgeschwindigkeitsbetrieb für die quantitative Metrologie.
Vibrationstolerant
kompakte Bauweise
Bietet Messstabilität und lehrenfähige Wiederholbarkeit.
MERKMALE
Kompromisslose, erstklassige Metrologie
Das optische Profilometer ContourX-200 basiert auf mehr als vier Jahrzehnten firmeneigener WLI-Innovationen und bietet die für die quantitative Messtechnik erforderlichen rauscharmen, schnellen, genauen und präzisen Ergebnisse. Durch den Einsatz mehrerer Objektive und die integrierte Merkmalserkennung können Merkmale über eine Vielzahl von Sichtfeldern und mit einer vertikalen Auflösung im Sub-Nanometerbereich verfolgt werden. Dies liefert maßstabsunabhängige Ergebnisse für Qualitätskontroll- und Prozessüberwachungsanwendungen in sehr unterschiedlichen Branchen.
ContourX-200 ist robust in allen Oberflächensituationen von 0,05% bis 100% Reflexionsgrad. Zu den neuen Hardware-Funktionen gehört ein innovatives Tischdesign für größere Stitching-Möglichkeiten
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