Optisches Mikroskop NanoWizard® 4 XP

RasterkraftLaborTisch

Das NanoWizard® 4 XP Rasterkraftmikroskop von NanoScience bietet atomare Auflösung und einen großen Scanbereich von 100 µm in einem System. Es ermöglicht schnelles Scannen mit Raten von bis zu 150 Linien/Sek. und eine nahtlose Integration mit fortschrittlichen optischen Techniken. Eine breite Palette von Modi und Zubehör für die Umgebungskontrolle, die Kartierung nanomechanischer, elektrischer, magnetischer oder thermischer Eigenschaften macht es zum flexibelsten System, das derzeit auf dem Markt erhältlich ist. Genauigkeit Untersuchung von Materialeigenschaften Mechanische, thermische und elektrische Messungen: Visualisierung von Kristallisation, Schmelzen, Wachstum und Phasentrennung. Ändern Sie Proben mit optischer Stimulation, Magnetfeldern oder Spannung. Gestrafft Ideale Multi-User-Plattform Erweiterte Optionen und Funktionen für erfahrene Benutzer. Umfangreiches Zubehör für die Untersuchung von leitfähigen Schichten, magnetischen Kraftgradienten und elektrostatischen Kräften. Leistung 150 Zeilen/Sek., 100µm Scanbereich Rationalisiertes Setup für erhöhte Produktivität. Ideal für dynamische Experimente an hochstrukturierten Proben. Schnelle und einfache Bewegung um die Probe herum. Höchste Flexibilität kombiniert mit extremer Leistung Der NanoWizard 4 XP NanoScience ist mit einer Reihe von neuen Funktionen ausgestattet, darunter: PeakForce Tapping® für einfache Bildgebung Schnelles Scannen mit bis zu 150 Zeilen/Sek NestedScanner-Technologie für die Hochgeschwindigkeitsabbildung von Oberflächenstrukturen bis zu 16,5 µm mit hervorragender Auflösung und Stabilität Neue Kachelfunktionalität für die automatische Abbildung großer Probenflächen V7 Software mit revolutionärer neuer workflowbasierter Benutzeroberfläche DirectOverlay™ 2 Software für perfekte Integration und Datenkorrelation mit modernen Fluoreszenzmikroskopie-Plattformen