AFM-Mikroskop NanoWizard® NanoOptics
optischRamanNahfeld

AFM-Mikroskop
AFM-Mikroskop
AFM-Mikroskop
AFM-Mikroskop
Zu meinen Favoriten hinzufügen
Zum Produktvergleich hinzufügen
 

Eigenschaften

Typ
optisch, Raman, AFM, Nahfeld, NSOM
Anwendungsbereich
Labor
Beobachtungstechnik
Fluoreszenz
Konfigurierung
Tischgerät

Beschreibung

Das NanoWizard® NanoOptics AFM ist für eine breite Palette von Anwendungen optimiert, die von der optischen Abbildung im Nanobereich durch Apertur- und Streuungs-SNOM bis hin zu Experimenten reichen, bei denen es zu Wechselwirkungen von Licht mit der Probe kommt, wie Absorption, Anregung, nichtlineare Effekte und Quenching. Schneidekante Optische Nahfeldexperimente Sammlung von Einzelphotonen und Auflösung im Subwellenlängenbereich. Ideal für die Untersuchung von optischen Oberflächeneigenschaften, Quantenpunkten und Metamaterialien. Einzigartig Optische Bildgebung im Nanomaßstab Nahtlose Integration mit fortschrittlichen Fluoreszenztechniken, Raman-Spektroskopie und zeitkorrelierten Einzelphotonen-Zählsystemen. Integrierter Anschluss für SNOM-Anwendungen. Nanomanipulation Benutzerdefinierte Experimente Korrelative Daten. Höchste räumliche Auflösung im Nanometerbereich. Entwickelt für Stabilität und Flüssigkeitsanwendungen. Ideal für BioTERS-Anwendungen. MERKMALE Spitzentechnologie zur Untersuchung nanooptischer Phänomene Der neue NanoWizard® NanoOptics-Kopf bietet einen hervorragenden physischen und optischen Zugang zur Probe von oben und unten sowie von vorne und von der Seite, selbst wenn der Kopf und der Kondensor montiert sind. Außerdem verfügt er über einen integrierten Anschluss für SNOM-Faseranwendungen. Da die Stabilität und Reproduzierbarkeit der Positionierung und des Scannens der SPM-Spitze für Anwendungen, die die Erfassung von Einzelphotonen über einen langen Zeitraum erfordern, von entscheidender Bedeutung sind, wurde das System dafür optimiert. Eine verbesserte Closed-Loop-Steuerung auf 5 oder 6 Achsen und die höchste Scanner-Resonanzfrequenz in z liefern eine Scannerleistung, die bisher in einem kommerziellen AFM nicht verfügbar war. Dies gewährleistet höchste Datenqualität bei Bildgebung und Kraftmessungen in Luft und Flüssigkeiten.

---

Kataloge

Für dieses Produkt ist kein Katalog verfügbar.

Alle Kataloge von Bruker Nano Surfaces anzeigen
* Die Preise verstehen sich ohne MwSt., Versandkosten und Zollgebühren. Eventuelle Zusatzkosten für Installation oder Inbetriebnahme sind nicht enthalten. Es handelt sich um unverbindliche Preisangaben, die je nach Land, Kurs der Rohstoffe und Wechselkurs schwanken können.