AFM-Spektrometer IconIR

InfrarotFT-IRfür die Nanotechnik

Das Dimension IconIR™ System von Bruker kombiniert Infrarot-Spektroskopie (IR) im Nanobereich und Rastersondenmikroskopie (SPM) auf einer Plattform und bietet akademischen Forschern und industriellen Anwendern die fortschrittlichsten Spektroskopie-, Bildgebungs- und Eigenschaftskartierungsfunktionen. IconIR ist das Ergebnis jahrzehntelanger Forschung und technologischer Innovation und bietet eine unübertroffene Leistung, die auf den branchenweit besten AFM-Messfunktionen des Dimension Icon® aufbaut. Das System ermöglicht korrelative Mikroskopie und chemisches Imaging mit verbesserter Auflösung und Monolayer-Empfindlichkeit, während seine einzigartige Architektur für große Proben eine ultimative Probenflexibilität für ein breites Spektrum von Anwendungen bietet. Produktiv geführter Arbeitsablauf und programmierbarer Tisch Bietet höchsten Messdurchsatz mit einfach zu bedienendem AFM-IR. Multimodal kartierung von Chemikalien und Eigenschaften Liefert quantitative nanochemische, nanomechanische und nanoelektrische Daten. Sub-5nm patentierte photothermische AFM-IR-Bildgebung Ermöglicht höchste Auflösung, beste Signal-Rausch-Charakterisierung mit Monolayer-Empfindlichkeit. Erste und einzige nanoIR-Fähigkeiten und Leistung In einem einzigen System bietet das IconIR die höchste Leistung für Infrarotspektroskopie im Nanobereich, Auflösung für chemische Bildgebung und Empfindlichkeit für Monoschichten. Nur Dimension IconIR liefert: Leistungsstarke nanoIR-Spektroskopie mit genauer und wiederholbarer FTIR-Korrelation, chemischer Auflösung <5 nm und Monolayer-Empfindlichkeit Korrelatives chemisches Imaging mit nanomechanischen und nanoelektrischen PeakForce Tapping®-Modi AFM-Imaging mit höchster Leistung und unübertroffener Probenflexibilität mit großer Probenaufnahme*