Rasterkraftmikroskop attoAFM I

Laborkompakt

ausrichtungsfreie Auslegerhalterung → spitzenwechsel in weniger als 2 Minuten interferometrische Erkennung der Cantilever-Auslenkung → eingebauter Amplitudenmesser abtastung im geschlossenen Regelkreis (optional) → einfaches Auffinden von Regionen von Interesse Das attoAFM I ist ein kompaktes Rasterkraftmikroskop, das speziell für Anwendungen bei niedrigen und ultratiefen Temperaturen und in hohen Magnetfeldern entwickelt wurde. Das Gerät arbeitet, indem es die Probe unter einem festen Cantilever abtastet und dessen Auslenkung mit höchster Präzision mit einem faserbasierten optischen Interferometer misst. Diese Technik zur Erfassung der Auslenkung hat den Vorteil, dass sie über einen eingebauten Längenmesser für die Schwingungsamplitude des Cantilevers verfügt, da der Interferometerkontrast direkt proportional zur Laserwellenlänge ist. Es kann sowohl im Kontakt- als auch im berührungslosen Modus eingesetzt werden. Es wird hauptsächlich für die magnetische Kraftmikroskopie (MFM) eingesetzt, z. B. für die Wirbelabbildung an Supraleitern oder die Abbildung magnetischer Domänen bei variabler Temperatur, und für die Piezokraftmikroskopie (PFM) an Ferroelektrika und Multiferroika. Weitere unterstützte AFM-Messmodi sind Kelvin Probe Force Microscopy (KPFM), leitfähiges AFM (c-AFM), elektrische Kraftmikroskopie (EFM) und andere Imaging-Modi. Weitere Informationen finden Sie in unseren Mikroskopie-Grundlagen. Das starre Design des Mikroskopmoduls ermöglicht auch Kombinationen mit kryogenfreien Kühlsystemen auf Basis von Pulsröhren für Anwendungen, bei denen flüssiges Helium nicht verfügbar oder erwünscht ist.