Spektroskopisches Ellipsometer PHE 102

Labor

Angstrom Advanced setzt Maßstäbe in der Ellipsometrie und bietet die beste Ellipsometrie-Technologie zu erschwinglichen Preisen an. Angstrom Advanced bietet ein komplettes Sortiment an Ellipsometern für Dünnschichtdickenmessungen, optische Charakterisierung für Brechungsindex- und Extinktionskoeffizientenanalysen (n & k). Unsere Ellipsometer können für viele verschiedene Anwendungen eingesetzt werden und werden in einigen der renommiertesten Labors wie MIT, NASA, UC Berkeley, Yale University, Duke University, NIST und vielen anderen verwendet. Schnelle Messung im UV/VIS/NIR-Bereich von 250 - 1100 nm mit Diodenarraydetektor oder Motorspektrometer (Monochromator) Optionale Erweiterung des Spektralbereichs ins NIR (700 - 1700 nm) oder (700 - 2100 nm) Optionale Erweiterung des UV-VIS-Bereichs (190 - 1100 nm) Rotierender Polarisator für die genaue Messung jedes Polarisationszustandes Step-Scan-Analysator für hohe Geschwindigkeit und geringes Rauschen Variabler Winkel von 10-90° Automatischer Winkel von 10-90° ist ebenfalls verfügbar Schnelle Bestimmung von Dicke und Brechungsindex von ein- oder mehrschichtigen Proben Psi- und Delta-Daten werden automatisch gemessen und über die PHE-102-Software angepasst Die PHE-102-Software ist das umfassendste Programm für die Datenerfassung und -analyse. Sie kombiniert modernste mathematische Anpassungsalgorithmen mit einer großen Auswahl an Modellierungsoptionen für eine schnelle und genaue Datenanalyse. Eine fortschrittliche Software für die spektroskopische Ellipsometrie Eingebaute Bibliothek von Materialeigenschaften, die mehrere hundert Materialmodelle umfasst Mischung von neuen Materialien mit bekannten Materialeigenschaften